[参考译文] EVM430-FR6043：ADC 捕获和 dTof 计算

尊敬的 Konstantin：

我认为该赝像是由激发换能器的仿真脉冲导致的。 您的 ADC 延迟设置为什么？

您的脉冲捕获看起来非常干净。 通常情况下、忽略捕获的初始部分(通过增加延迟)来消除任何伪影都没有问题。

我必须思考您的第二个问题。

此致、

Evan

您好、Evan：  

我特意选择了太短的延迟来显示该赝像。 谢谢您提供此提示。 所以您的意思是伪差是由换能器激发产生的方波脉冲引起的，与换能器信号本身没有任何关系？  

当我增加脉冲数时、伪影向右移动、因此它会"稍后"出现。 这是因为生成脉冲所需的时间较长吗？  

此致、

康斯坦丁

尊敬的 Konstantin：

很抱歉、我落后了、我将在周一回复。

Evan

Unknown 说：

当我增加脉冲数时，工件会向右移动，因此显示为"稍后"。 这是因为生成脉冲所需的时间较长吗？  [/报价]

是的、这对我来说似乎是正确的、初始(激励)脉冲序列中的脉冲越多、总时间就越长。

关于您的另一个问题：

[quote userid="558428" url="~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1227584/evm430-fr6043-adc-capture-and-dtof-calculation 这样、如果我测量了具有高标准偏差的 absToF、这也会影响 dToF 的标准偏差吗？它们是独立的吗？   [/报价]

由于两次测量都依赖于相同的数据、因此我认为较高的信噪比会改善两次测量的标准偏差。

此致、

Evan

Unknown 说：

Q2： ADC 捕获是否显示传感器电压信号的直接转换、还是交叉相关结果？  [/报价]

谢谢您的回答，您能提供更多有关这方面的信息吗？  

此致、

康斯坦丁