大家好、
问题:单片信息丢失或被擦除。
加电时的晶振输出频率为19.999992 MHz、满足20 MHz±10Hz 要求。 晶振输出频率在运行一段时间后为20.000092 MHz、这不符合晶振输出频率范围并会持续变化。
关于晶体:
a:正常性能指标测试合格、频率正常。
B.产品的温度特性测试――规格文件要求温度特性≤0.5ppm,产品测试结果如下:
该产品在低温和-8到5 °C 左右以及35到50 °C 正常温度之间频率波动较大、而在温度超过50 °C 时频率恢复正常。
C. 从产品通信和内部项目中读取数据、产品通信正常。 读取内部单片补偿数据会显示数据已被擦除(红色框中的数据变为0)。
以下是 工作产品和非工作产品的数据:
图1. 非工作产品单片信息
图2. 工作产品单片信息
将数据重写到不工作的单片器件后、产品温度特性频率正常。 阻抗测试在工作和不工作的单片单元的引脚上执行、未发现阻抗差异:
您能帮助检查这个案例吗? 谢谢。
此致、
切里