主题中讨论的其他器件:UNIFLASH
工具与软件:
一批640个设备中有5个存在内存问题。 将两个程序加载到器件上、然后使用 Uniflash 进行验证。 第一个程序从存储器地址0xC200开始、共6786个字节。 第二个程序从内存地址0xFD20开始、持续602个字节。
在所有5个出现故障的设备上-第一个程序成功验证、但第二个程序失败。 查看内存值时、可按设置一个或多个地址 0.当尝试通过内存浏览器直接写入这些地址时,内存将在 powercycling 后再次丢失其值-或导致另一个内存地址损坏。
我发现的有问题的地址包括:
FE32 |
FDEE |
FDF4 |
FDF2 |
FDF0 |
所有器件上的标记均表示:
"430FR
5738.
TI 28I
A62H J"
或者
"430FR
5738.
TI 42i
ALJZ J"
这些问题的原因可能是什么? FRAM 是否只是故障?如果是、我们预计能看到多大的百分比? 或者它们是否会在回流过程中被以某种方式损坏?