[参考译文] RF430FRL152H：NFC 不工作

您好、Art、

报告的设计似乎具有合理的尺寸。
添加84.4pF 电容器后、客户可以验证13.7MHz 的谐振频率是否正确。
此外、还可以在射频供电应用中测量 VDDH。
(VDDH 是整流天线电压、可以指示 RF430FRL152H 是否从天线获得足够的功率。 VDDH 应大于1.8V)
此外、还应考虑天线谐振电路的 Q 因子。
有关更多详细信息和实用示例、请参阅以下应用手册： https://www.ti.com/lit/pdf/sloa217

此致、
Andreas。

尊敬的 Andreas：  

你好。  同一客户有其他查询。 我已分享查询的全部详情，详情如下所示。

 这与使用 RF430FRL152H 开发小型可穿戴设备相同。  我们需要测量 NFC 电路的质量因子、如 SLOA217A -第7.2章"解密"中所述。 我们在 Q11模式下使用网络分析器和自生成的单圈进行了此测量。 单圈直接连接到 VNA 的端口1、我们的 RF430FRL152H 器件根据 NFC 进行了耦合。 以下是测量结果：  

我们能否使用该测量甲基二极管计算质量系数？ 或者、我们应该考虑什么？  我之所以提出这一问题、是因为环路探头的这个未知阻抗未经校准。

感谢您的支持。  

此致、

Jonathan

你好 Jonathan、

文献(例如 ISBN：978-0470695067)也介绍了此带有耦合线圈的 VNA 测量方法。 因此、这是一种有效的方法。 应绘制阻抗曲线的实际部分(而不是 S11)。 测量线圈的谐振频率应明显(>2倍)高于 NFC 电路的谐振频率。 此外、建议在天线之间放置一些隔套(大约5...10cm)。 如果我理解正确、只要您绘制实际阻抗部分、就不需要测量线圈的校准测量。 或者、通过校准测量、可以直接绘制阻抗幅度并进行计算。

此致、

Andreas。

尊敬的 Andreas：

很抱歉更新过晚。 这是客户的回答、如下所示  

感谢您提供良好的文献建议。 只是为了让客户清楚地了解：

为了补偿影响、他们只需确保其耦合环路对有趣范围(大约10-20MHz)内的测量没有明显影响。 与测量耦合环路的实际部分和磁耦合感应器相比、它们将获得感应器的谐振频率和品质因数。

正如它所说的"测得的应答器阻抗与电压 U2或电流 i2"(第104页)、它们在 Q11模式下的测量是否已经正常？

此致、

Jonathan

你好 Jonathan、

如前所述、耦合环路谐振频率应明显高于相关范围、以避免谐振曲线重叠。 为了不干扰 NFC 天线场、需要一定的距离。

但我不确定 S11是否可用于 Q 计算。

通常情况下、Q 因子对于新的 PCB 天线设计并不重要、因为对于给定的 PCB 材料和典型尺寸、Q 因子通常在合理的范围内。 只有铜线天线可能具有过高的 Q 因子、可以使用额外的电阻器进行校正。

此致、

Andreas。

尊敬的  Andreas：

我们的客户希望感谢您的大力支持！ 这对他们真的很有帮助。 它们在测量中获得了良好的结果、 也可以通过 S11测量确定质量系数。

此致、

Jonathan