工具与软件:
嗨、团队:
我的客户 Valeo 在 其项目中使用 TPS92515-Q1。 他们发现、在不同下电上电周期测试同一电路板时、他们发现 IL 峰值有时不同、导致输出电流精度无法满足要求。

请参阅数据表中的公式、它似乎与 VCST_Offset (tDEL)相关。 我的问题来回答客户电路板上的特定单个 IC、 VCST_Offset、tDEL 值是否会在不同的测试下电上电时更改、下电上电意味着上电和断电? 如果没有,你能提供更多的理想,为什么这发生?

此致、
Xiaowei Zhang

