• 状态
  • 已锁定 已锁定
  • 回复 4 回复
  • 订户 0 订户
  • 视图 107 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TPS7H1101A-SP：估算反馈引脚电压的寿命结束变化

admin
Guru**** 2493565 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1483673/tps7h1101a-sp-estimating-end-of-life-variations-for-the-feedback-pin-voltage

器件型号：TPS7H1101A-SP

工具与软件：

大家好、我正尝试对该器件的反馈引脚电压的变化进行估算、以便进行最坏情况分析。

我在5962-13202 SMD 中看到、在初始容差、温度和辐射条件下指定了0.594V 至0.616V 的反馈引脚电压限制。  

我还想说明老化对该参数的影响。 我在表 IIB 中看到、+/- 9mV 限制用作寿命测试后限制。

我的问题是、能否使用对数乘法器对此器件的老化降级进行建模？ 我的理解是、+/- 9mV 限值适用于1000小时、125°C 寿命测试、但我想根据我的应用推断该限值(持续时间更长、但温度更低)。  

谢谢你。  

  • 0
    TI__Guru**** 2493565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Eddie：

    由于我们没有 1000小时/125°C C C 组测试的中间读取点或备用温度测试数据、因此很难判断我们是否期望得到一般的线性外推。 我认为 在将 C 组测试时间和温度系统配置转换为您的任务时间和温度系统配置时、可通过阿累尼乌斯方程获得更好的方法。 您可以 在此处查找此器件(和其他具有相同流程的 器件)的55°C 时基故障率、以插入先前链接的计算器。

    我将检查几点、看看既然大家关注的是数值漂移、我们是否能够提供其他指导、说明如何在实际电气规格限制背景下理解时基故障率。 我稍后将在这里联系 base 进行更新。

    谢谢！

    Sarah

  • 0
    TI__Guru**** 2493565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Sarah、感谢您的答复。 请随时了解如何使用时基故障率来量化电气规格限制(尤其是反馈引脚电压)的数字漂移。  

  • 0
    TI__Guru**** 2493565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Eddie、

    没问题！ 希望今天或明天有最新消息。

    谢谢！

    Sarah

  • 0
    TI__Guru**** 2493565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Eddie：

    对于延迟、我们深表歉意。 这看起来像是我的初始注释被保留了。 对于基准漂移、测量长期漂移是真正知道数值项中预期值的唯一方法。 这就是许多精密基准在其数据表中包含长期图的原因之一。 通过阿仑尼乌斯方程计算出的加速因子 在 故障分析中更有用 、因此我们的时基故障率资源中提到了它。

    一般而言、我们的设计技术有助于解决电迁移漂移问题。 但如果没有实际的长期数据可供参考、遗憾的是、我们无法为您提供技术上可靠的答案来推断您的任务剖面。  

    谢谢！

    Sarah