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大家好、我正在从事铅酸电池管理系统项目、测试 BQ34100-R2并构建原型。
目前、该芯片通过以下设置连接到试验电路板：
P2：GND
BAT：铅酸电池5V
VEN：悬空
P1：GND
CE：3.3V
REGIN (PIN6)：3.3V
REG25 (PIN7)、TS：热敏电阻
HDQ：接地(GND)
SRN：悬空
SRP：悬空
VSS：GND
但是、我遇到以下问题：
- 。 I²C 地址 芯片的变化是不可预测的、有时显示为 0x0B ,和其他时间作为 0x55 .
- 地址是空闲的 0x0B 、连接保持稳定。 但是、当它显示为时 0x55 、连接每秒中断一次并开始 0.1秒 以重新建立。
- 。 测量值保持不变 且不会改变。
- 当我检查 控制状态(0x0000) 则也会返回 0、96或25600 . 尝试将状态更改为 SEALED、CAL_ENABLE 或任何其他模式都不起作用。
- 奇怪的是、 有时、我不小心应用了 3.3V 至 REG25 (引脚7) 、芯片开始正常工作。
我测试了3个 BQ 芯片、它们的行为都相同
您能帮助我诊断这些问题吗？
此致、
Somyeong
