工具/软件:
您好、关于车门驱动器芯片 UCC5870QDWJQ1产品、我们在应用中遇到了以下异常问题。
此问题描述如下:
(1)发生场景:EMC 测试- RS 抗辐射测试(产品通过保护性导电外壳接地、DUT 的场强设为150V/m);
(2)产品应用:在开/关情况下使用、驱动器在测试过程中需要保持打开状态;
(3)异常描述:在400m-1G 的 RS 测试中,驱动芯片在500m-800m 频段中有驱动异常(在给定的情况下,驱动器输出不规则地在开和关之间跳转,一些芯片最终跳转到关,撤销干扰场,并可通过重新加电恢复);
(4)异常数据:附件是测试收集的寄存器数据。


