[参考译文] BQ27427：BQ27427上作为外部 NTC 的温度测量精度

您好 Johnny、

您能否重新发送原理图、您所附的链接将转至 Microsoft Bing 页面。

谢谢您、
Alan

你好、Alan Frias

   已重新提交原理图。 谢谢

您好、Alan Frias

   原理图已重现。

 第二个 问题:可以解释 为什么通过更改寄存器 R2713或取消的值得到不同的结果。

谢谢

你好 Jonny、

似乎问题可能来自 VDD 连接到 BIN、也可能来自所使用的 ADC_NTC。 如果您计划不使用热敏电阻、则只能使用20k 电阻将其拉至 VDD。

谢谢您、
Alan  

您好、Alan Frias

我已经通过 BIN 从外部连接了 NTC 电阻器、如上一个电路所示。 我的问题是电路已经使用10k Ω 电阻器上拉。 在保持电路不变的情况下、如何修改软件来使外部 NTC 检测正确无误？ 谢谢     

您好 Johnny、

如果您想按如下方式设置热敏电阻软件、可以在"Calibration"选项卡中的 BQStudio 中校准热敏电阻、也可以在"Data Memory">> Calibration >> Data >> Ext Temp Offset 中找到并更新失调电压误差。 但在硬件方面、我会在 EVM 上验证您的失调电压误差。

谢谢您、
Alan

您好、Alan Frias

    我之前尝试过这些方法、但检测到的错误值仍然很重要。  你有其他方式吗?谢谢

您好、Alan Frias

   第二个问题： 能否解释连接具有不同电阻值的外部上拉电阻器时测试结果差异很大的原因？

您好 Johnny、

是否可以获取相同黄金映像(.srec)的 EVM 程序、并查看它是否为硬件问题以进行确认。

谢谢您、
Alan

您好 Johnny、

查看您的原理图后、我会移除您必须与 VDD 的连接、并直接与接地的热敏电阻连接。

谢谢您、
Alan

您好、Alan Frias

    如何 从我们的设计 PCB 板中获取 EVM 编程相同的黄金映像(.srec)？ 您有更好的方式吗？

您好 Johnny、  

您要从"golden image"选项卡中导出.srec、而不是使用新的 EVM 导入选项卡上的.srec 导入。

谢谢您、
Alan

您好、 Alan Frias

    我们的设计板无法通过 EVM 访问图像、但我通过软件打印一些数据存储器、包括子类 ID=82/89/64/104/105/107、如图所示。  

约翰尼：

我建议使用 BQstudio、因为它只在开发期间需要使用。 我不确定您使用的方法/软件、但我们不支持 bqstuido 以外的软件。

谢谢您、
Alan

您好、Alan Frias、

您的测试结果如何？ 我们已经通过这种方式获得了这个结果。

我的问题是电路已经使用10k Ω 电阻器上拉。 在保持电路不变的情况下、如何修改软件来使外部 NTC 检测正确无误？

谢谢。

您好 Johnny、

根据我目前的了解、您发送的测试结果没有任何意义。 但是、如果您不想移除 R2713上拉电阻器和 R2720、我唯一建议的是进入"Calibration"选项卡并校准温度部分。

参考的校准 E2E：
https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1390346/bq27427-bq27427-calibrating-fuel-gauge-for-given-cell

谢谢您、
Alan

您好、Alan Frias、

   本参考案例介绍了电压、电流和电池校准、但根据当前电路设计、我们如何解决正确温度检测的问题。

    此外、提供给您的数据是 BQ7427-0中的数据存储器、其中包括多个子类 ID 的数值

您好、Alan Frias、

    我得到了一些关于数据闪存的价值包括 subclassid-82、89、64,104,105,107。  请参阅附加文件。

您好 Johnny、

我们解决问题的方法是移除  R2713上拉电阻器和 R2720、热敏电阻本身会产生电压、因此不需要上拉电阻器。 此外、我建议使用 BQstudio、因为我们在包含此工具的产品页面上有大量文档、并使用此工具发送不同事件的文件来调试用户问题。

BQstudio：  
https://www.ti.com/tool/BQSTUDIO

谢谢您、
Alan