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器件型号：BQ76940 工具/软件：
您好：堆叠两个 BQ76940 IC 时、我们似乎处于这样的情况：每当我们导通为容性负载或在输出端施加 crowbar 时、我们就会使上部 BQ76940 IC 失效。
我们认为这是由于 BMS IC 单元输入端出现硬振铃所致。 我们已经尝试使用额外的二极管、更大的滤波电容器和更大的滤波电阻器来缓解这种情况。 当使用高 ESR 电池时,这种行为更为明显(在测试中认为便宜的18650、约.2欧姆),当我们使用的生产电池约为0.05欧姆时,环更小,但 crowbar 仍会杀死较高的 IC。
我们只能在连接容性负载或 Crowbar 时重现此问题。 我们看到电池输入端出现2-4 μ s 范围内的振铃、可能会变为负几伏或超出范围。 我们怀疑电压会杀死 IC、我们看不到任何其他电流路径。 这主要是我们认为的系统问题、在这种情况下、电芯 ESR 越低、BMS IC 就越稳健。 振铃似乎在上部 BMS IC 上也最为明显。 如有任何意见或反馈、将不胜感激。