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器件型号：UCC21551 工具/软件：
您好、
我们想了解 UCC21551等 TI 增强型隔离栅极驱动器的绝缘寿命、尤其是在高频开关应力下。
根据数据表中的图5-5、根据 TDDB (时间依赖性电介质击穿)模型、在1500VRMS 和60Hz 下的绝缘寿命估计约为29年。 我们了解此模型假设存在低频交流应力、例如电力线频率。 
但是、在我们的应用(例如 LLC 转换器和图腾柱 PFC)中、隔离栅持续承受100kHz 左右的高频开关电压以及快速 dv/dt 转换。
您能否提供 TI 关于此类高频开关(例如100kHz)如何影响绝缘寿命的官方观点？
我们尤其感兴趣的是、图5-5中基于 TDDB 的寿命预测在高频应力下是否有效、或者寿命是否因以下原因显著缩短：
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增加开关周期数、
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dv/dt 应力更高、
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可能的局部放电机制。
如果我们的理解正确、并且有任何建议的设计注意事项(例如降额指南)或讨论本主题的相关应用手册、我们将非常感谢您的指导。
谢谢、
Conor
