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[参考译文] BQ25616：请求原理图审查、怀疑热失控

admin
Guru**** 2390735 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1509270/bq25616-schematic-review-requested-thermal-runaway-suspected

器件型号：BQ25616

工具/软件：

我们请求对我们的设计进行原理图审阅。  在一些热失控和充电器芯片损坏的情况下、需要进行更换。  芯片似乎工作正常,运行冷却,但一些随机时间,它插入 USB ,突然它是热和损坏。  不知道这是否是由于探测造成的。

附件是原理图、四个 PCB 层图像和阻焊层图像。  GND 和 VCC 图像为负掩码。  谢谢。

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    TI__Guru**** 2390735 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好：

    我的布局审核如下：

    1.为确保去耦性能、不应在电容器连接之前加载 REGN 节点。

    2. SYS 和 BAT 去耦电容器应尽可能靠近 IC 放置、但此处没有。

    请提供有关故障的更多信息、USB 线路是否会达到更高的电压？

    此致、

    Mike Emanuel

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    TI__Guru**** 2390735 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Mike、

    感谢您查看这个。  请注意 ECS。  而且、根据您的评论、我没有任何接线错误或省略的连接。

    关于我们看到的三到四个故障...一位同事看到了两次、但他是一位具有一定硬件功能的软件开发人员。  如果没有显微镜、他可能会在探测过程中造成损坏。  在我自己的实验室中发生故障的线时间、我很确定这不是由于探测问题引起的。  USB 是仅5V 的电源；它不能更高。  下次发生这种情况时、我将重新打开此帖子并提供症状。

    Jon