工具/软件：
您好、
我们的 BMS 具有 BQ76952 (AFE)、我们开发了一个单独的工具(即 AFE 编程器)、用于在生产过程中对 AFE 执行 OTP 编程。 为了确保正确配置 AFE、我们希望实现一个逻辑来验证整个数据存储器寄存器的完整性。
一种可能的方法是读取所有数据、将数据存储在大缓冲区中、在 AFE 编程器和 BMS 中计算校验和、然后比较结果。 但是、这会引入大量代码来实现完整性检查。
鉴于此、AFE 中是否有可帮助更高效地实现此目的的内置功能？
任何建议都将不胜感激。
此致、
李庆宰
尊敬的 Alexis：
感谢您的答复。 让我为您提供一些背景信息。 我们的 BMS 编程过程包含以下两个步骤：
(通过我们的定制工具)对 AFE 执行 OTP 编程
对 BMS 的微控制器进行编程
在初始化阶段、BMS 微控制器上运行的固件会尝试验证 OTP (或数据)存储器的内容是否与步骤1中编程的内容相匹配、并且没有发生意外的更改。
在我们的当前实施中、BMS 微控制器固件会读回 OTP 编程参数、并将每个参数与其预期值进行比较。 然而、该方法的局限性在于其不对未经更改的数据存储器寄存器进行验证。 因此、如果这些寄存器中的任何一个被意外更改或损坏、我们就无法检测到它。
因此、我在步骤1 (在 AFE 编程之后)寻找一种方法来生成 OTP 存储器的签名、然后在 BMS 微控制器初始化阶段比较该签名以验证存储器完整性。
如您所述、使用0x0005 STATIC_CFG_SIG ()似乎是一个诱人的选择、但它不包括校准值这一事实让我感到担忧。 在这种情况下、"校准值"的含义是什么？
是否有方法可以获取 OTP 的数字签名或这种使用情况？
谢谢您、
李庆宰
