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[参考译文] BQ25756：芯片失去功能

admin
Guru**** 2466550 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25756

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1514444/bq25756-the-chip-lose-its-function

器件型号：BQ25756

工具/软件：

嗨、亲爱的。

很抱歉再次来到这里。

我 之前解决了一个问题,但新问题即将到来。

我将电池连接到电路板、并 在 rgen 和 STAT1之间连接一个希望显示充电器状态的 LED。

为电路板供电(约50V)后、LED 亮起、表明振荡发生器正确。 但在我慢慢地将电压增加到58V 时,电池连接器引脚突然发出两次火花。 之后、LED 始终关闭且我测量 rgen、它为0V。 显然、芯片很糟糕。

如何判断芯片是否良好、如何保护芯片以后不受损坏？

谢谢！

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    TI__Guru**** 2466550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Sun、

    没问题。

    不过、感谢您对此有耐心。 我此刻被淹没了。 我将在下周初就这个问题回复您。

    此致、
    Ethan Galloway

  • 0
    TI__Guru**** 2466550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、亲爱的。

     根据你的评论,我 充满了期待 ,将有一个好消息来解决损害的问题。

    谢谢！

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    TI__Guru**** 2466550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、亲爱的。

    为了保护芯片免受损坏或火花、请在芯片和电池之间添加一个能够承受较高电压(例如150V)的二极管。 这是否可行？

    谢谢！

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    TI__Guru**** 2466550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Sun、

    再次感谢您对此有耐心。

    Unknown 说：
    为了保护芯片免受损坏或火花的影响、请在芯片和电池之间添加一个能够承受较高电压(例如150V)的二极管。 是否可行？

    是的、这是可以做到的。

    Unknown 说：
    如何判断芯片是否良好以及以后如何保护芯片免受损坏？

    您可以通过几种方式测量芯片是否良好。 以下是我通常使用的方法：

    • 当 VAC 或 SRN 上电时、BQ25756是否可以通过 I2C 进行通信？

    • 当 EN_ADC=1或 BQ25756开始充电时、REGN 是否会达到5V？

    • SRN/SRP 或 ACN/ACP 上的10Ω 电阻器是否仍为10Ω？ 有时、电流浪涌会导致该电阻器损坏。

    • 为了测试开关 FET 是否仍然正常、我喜欢使用万用表上的二极管测量功能来测量从漏极到源极和从源极到漏极的 FET。

    我有几个问题可以帮助调试电路板损坏：

    • 这些10Ω 电阻器是否仍然正常？
    • 电路上是否有其他损坏？
    • 再次获得正常工作的板后、是否可以使用示波器测量 SW1和 SW2？
    • 设置 EN_CONV_FAST_TRANSIENT 是否可以改善电路行为？

    如果您对此有任何其他问题、请告诉我。

    此致、
    Ethan Galloway