工具/软件:
我之前收到了一张关于我的 TPS23758设计的开放式票证、对话结束时、由于接地而出现了潜在握手问题。 我看到一些现场设备上的故障 POE 电路重新出现问题、我对导致故障的现场条件没有很好的了解。
我想了解 TI 工程师关于各种接地轨可能与接地短路以及这可能导致问题的评论。 该主题的具体注释是:
"接地连接是可能导致握手失败的另一个因素:例如 VSS、PGND 或 GND 接地短路了吗?"
谢谢您、
马特
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我之前收到了一张关于我的 TPS23758设计的开放式票证、对话结束时、由于接地而出现了潜在握手问题。 我看到一些现场设备上的故障 POE 电路重新出现问题、我对导致故障的现场条件没有很好的了解。
我想了解 TI 工程师关于各种接地轨可能与接地短路以及这可能导致问题的评论。 该主题的具体注释是:
"接地连接是可能导致握手失败的另一个因素:例如 VSS、PGND 或 GND 接地短路了吗?"
谢谢您、
马特
尊敬的 Matt:
感谢您的跟进。 我通过以下方式找到了我们的旧对话:
看起来 GND 连接正确。 EGND 与 VSS 和 RTN 去耦
您提到了当您使用适配器和 APD 引脚时、直流/直流转换器可以很好地工作。 由于检测/分级的原因、这可能是 PoE 存在问题。 PSE 还可能会断开 PD、因为 PD 从 PSE 消耗的电流太小。 PSE 需要来自 PD 的最小维持功率特征电流。
-您能在故障电路板上展示 VDD - VSS 的波形吗? 在1-5s 的时间窗口中(100ms/div 或500ms/div)?
-您能尝试测试故障电路板在开启时满负载3.5W 设置(保持功率特征可能需要 PD 具有> 14mA 直流电流)?
此致、
DIAN
尊敬的 Diang:
感谢您的答复!
为了 澄清我在另一个主题中的评论、我的系统有两个5V 直流 电位源。一个来自 USB 电源(VBUS)、一个来自 POE 电路(VPOE)。 如果通过 VBUS 为系统上电、则无论 VPOE 是否正确生成、负载都会工作并按预期运行。 在"不良"电路板上、我可以为 VBUS 上电、并且仍然观察到 POE 电路的相同问题。 遗憾的是、确保存在负载似乎不有助于实现稳定的 VPOE 电源轨。 我尝试使用 VBUS 打开负载、提供 POE 电源、然后禁用 VBUS、查看 VPOE 是否可以稳定、但无法稳定。
APD 也被拉至低电平、当前未连接到 VBUS。
这是100ms/div 的 VDD 到 VSS。 这是一个非常稳定的55V DC。 500ms 的刻度看起来是一样的。

我还研究了"不良"电路板上的一些其他信号、此处是漏极到 PGND:

CP 至 PGND:

fVPD 到 PGND (整流器的输出):

VCC 至 PGND:

感谢您的帮助、
马特
尊敬的 Matt:
感谢您的波形。 看起来这不是握手问题、因为我们可以看到、 即使在损坏的电路板上也存在一些开关波形。 这可能是直流/直流转换器的问题:
SRF 电阻(R426)仅为10 Ω、对于 TPS23758的集成式 MOSFET 而言为低电阻。 第二侧同步 FET (Q400)和齐纳二极管(D302)为30V 或24V。 没有缓冲器 RC 来减少 Q400的过冲。 当开关速度快( R426仅为10 Ω)时、Q400和 D302处可能会出现更高的过冲、这可能会导致每个开关周期内齐纳二极管发生雪崩并快速降级。
您可以尝试在不良电路板上执行以下操作:
1.尝试用新的 FET 替换 Q400、额定电压为40V 时更好
2.尝试用新的齐纳管替换 D302。 如果 FET 为30V、则可以保持 24V 齐纳二极管;如果 FET 为40V、则齐纳二极管为32-36V。
3.使用 R426 = 50欧姆
4.再次打开坏板,看看它是否可以恢复。
此致、
DIAN
尊敬的 Matt:
Q400是反激式次级侧的同步 FET。 当 TPS23758内的初级 FET 导通且 Q400关断时、 Q400的 Vds (off)可能为 Vout + Vin/Npri*nsec +过冲。 总体值可能超过30V 额定值。 过冲主要来自变压器漏电感和杂散电感。 添加串联 RC 缓冲器有助于减少过冲:R + C 越小、过冲越小、但开关损耗越高(作为权衡因素)。 您可以从 EVM 值开始测试。
此致、
DIAN