工具/软件:
你(们)好
我们会观察到设计中偶尔会出现 VSYS 下降。
它发生在 VIN 开关应力测试下。 在此测试中、我们通过每4秒打开和关闭一次10次尝试来模拟不稳定 VIN 的短暂突发、几分钟的弛豫时间以允许电池充电。
观察结果是:
关闭外部电源后、VIN 降至 VINDPM 限值
2. 60ms 后、VSYS 电压出现短路(~500us)下降。
此事件的示意图:
遗憾的是、此图未捕获 VBAT 电压、但电池正常(ESR < 150m Ω)。
在不同的 VBAT 电压电平下会重复发生、 与 VSYSMIN 限制略有相关。
复制与系统负载相关。
PMIC 寄存器设置:
REG00 = 0x17
REG01 = 0x1F
REG02 = 0x08
REG03 = 0x11
REG04 = 0xB2
REG05 = 0x9C
REG06 = 0x42
REG07 = 0x4B
您能否给出这样一个 VSYS 下降的可能原因? 这个问题很难重现、了解哪些事件可能导致此类行为、可以帮助我们找到问题的具体位置。
谨致问候、Vasyl。