[参考译文] LM3671：没有潜在解决方案的 ESD (静电放电)问题

尊敬的 Trevor：

LM3671符合数据表中所述 JEDEC 标准的 ESD 冲击条件。 这些 ESD 冲击的脉冲宽度通常非常窄、只有几 ns。

如果您在应用中看到的尖峰时间较长、可能不仅仅是 ESD 冲击、这可能会导致器件损坏。 我的建议是使用铁氧体磁珠对阻尼输入滤波器进行实验( https://www.ti.com/lit/an/slvafe0/slvafe0.pdf )。 具有低 ESL 的小外壳尺寸电容器也可与滤波器搭配使用、来为尖峰提供低阻抗路径。 您可以使用额外的滤波器监控 LM3671输入引脚上的电压、查看其是否低于绝对最大值规格。   

如果尖峰电压无法降至 LM3671的绝对最大额定值以下、那么您可能必须考虑一款具有更高绝对最大额定值的替代器件。

此致、

Varun

尊敬的 Varun：

由于我们没有任何 ESD 仿真硬件、因此我对 USB 外壳的震惊之处在于使用了烧烤点火器/冲击器、因此冲击的持续时间可能比典型的 ESD 冲击更长。 我可以尝试添加一个具有低 ESL 电容器的铁氧体磁珠、看看这是否会有所不同。

我现在还质疑这些缺陷是否来自 ESD 或其他来源。 这些监管机构不断失败并从客户那里回来、但我能够复制它的唯一方式是震惊 USB 外壳。 是否可以让德州仪器(TI)的某人运行故障分析报告、以便找出根本原因是什么？  

谢谢、

Trevor

尊敬的 Trevor：

除了您施加的电击之外、您能否 在插入 USB 电缆或应用正常运行期间检查 LM3671的输入端是否存在任何电压尖峰？

添加铁氧体时、您可能还需要添加一个额外的阻尼电容器(带 Rd 的 CD)、因为铁氧体的电感以及原理图中的4.7uF (C6)可形成无阻尼 LC。  

我们可以运行 FA 来查看 IC 中的损坏情况。 但是、损坏的根本原因很可能是输入端的电过应力。  

您可以在此处提交故障分析申请： https://www.ti.com/support-quality/additional-information/customer-returns.html

此致、

Varun

Varun

插入/拔下产品电源时、输入端没有尖峰。 使用示波器测量输入电压时、在产品以正常稳定状态运行时、可以在输入端获得这些电压测量值：

最大电压：5.36V、最小电压：5.12V、平均电压：5.22V

这些电压处于 IC 的绝对最大值范围内、尽管5.36V 尖峰略接近绝对最大值 在我们的应用中、唯一以3.3V 电压运行的器件是微控制器、EEPROM 和键盘、因此我认为电流消耗不是问题。 我可以尝试添加一些推荐的组件、看看这样是否有所帮助。