[参考译文] BQ40Z50-R2：放电一段时间后、设备有许多异常保护措施

尊敬的 Ian：

这里的温度读数似乎非常高、您能否确认目前是否有任何连接 TS1 - TS4引脚的东西？

如果没有、似乎电量监测计仍在处理此引脚的读数。 请在温度启用寄存器中将其禁用。

此致、

Anthony

您好 Anthony、

我的电池包使用 TS1收集电池电芯的表面温度、而不是 TS2~TS4。 现在、通过 Battery Management Studio 清除 PF 故障位置并再次对其放电后、这种异常情况将每使用2-3分钟重复一次。 此外、我没有打开 UTD 和 OTD 保护、也没有启用 PF 保护。 这些可从 gg.csv 文件中读取、但在异常发生后、出现了许多 PF 故障位置。 请协助分析这种异常现象。 谢谢！

尊敬的 Ian：

这是在温度室中进行的吗？ 如果器件应用在大于85°C 的温度下、我们无法保证器件正常运行。

如果将黄金映像.srec 重新加载到器件上、是否有任何区别？

此致、

Anthony  

您好 Anthony、

我的电池组用于无人机、这是正常室外飞行期间发生的异常情况。 经检查发现、电池电量监测计具有各种异常保护。 清除后、也可以通过在室内环境中模拟放电来重现此现象、如随附的日志中所示。 因此、在整个过程中、温度环境都是正常的。 日志数据的温度突然从27 °C 更改为192 °C、并且在连续收集后、突然从192 °C 更改为27 °C。这应该是 NTC 数据收集中的错误、因为内部温度收集是正确的。 问题不在于温度、其他 PF 异常的主要原因是什么？

您好、在此电池组闲置一段时间后、发现存在 DFW 设置。 根据规格表、"数据闪存写入不成功"。 为什么这会导致这种情况、并且我无法再使用 PF_CEAR 命令来清除 PF 标志

您好 Ian、

电量计的数据闪存因刷新多次而磨损、或者因 ESD 事件而损坏。 发生这种情况后、电量监测计将永久禁用电池组。 无法进行恢复、建议对 PCB 进行返修并更换 IC。

谢谢您、
Alan

HI、ESD 会导致电池仪表闪存异常、无论是由来自 I2C 接口 B+还是 P+的 ESD 引起。 具体来说、是什么网络 ESD 导致了闪存损坏

尊敬的 Ian：

DFW 标志仅指定数据闪存写入从物理级别不成功。 该器件无法辨别 ESD 事件影响的引脚。 此系统中是否有任何暴露的连接可以让我们了解这种情况是如何发生的？

此致、

Anthony