工具/软件:
尊敬的 TI 专家:
我想问几个问题、
请查看我的以下问题、
- 在负载瞬态期间、TPS54A20中串联电容器的电容值是否会影响电路?
- 串联电容器的尺寸是否会影响其自身的电压纹波、电容器上的纹波尺寸是否会对电路产生重大影响?
- 串联电容器的大小与预充电时间成正比。 通常、应如何设置预充电时间以使电路正常工作?
- 预充电时间过长或过短会对电路产生什么影响?
- 预充电和电路操作的时序是什么?
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工具/软件:
尊敬的 TI 专家:
我想问几个问题、
请查看我的以下问题、
尊敬的 J:
为了简单起见、串联电容器也被称为 SCAP、以帮助在两个相位上进行能量传输。
1)是的,因为它作为存储能量的输出。 较大的 SCAP 意味着更多的能量来帮助应对突发瞬变、较小的 SCAP 意味着在负载瞬变期间对稳定输出的帮助较少。
2)是的,由于相位之间的能量变化,SCAP 的值会影响其自身的纹波。 它不直接显示输出纹波、但其作用类似于具有不同的电容值、即 SCAP 两端的平均电压将 根据存在的纹波量 而变化、从而影响器件开关。 我们建议对 SCAP 使用低 ESR 来缓解纹波问题。
3)更大的 SCAP 意味着更长的充电时间。 器件将需要根据 VIN 为 SCAP 充电、一旦 SCAP 达到 VIN 的一半、它将开始软启动。 该器件具有阈值、可在电压监控器读取的电压超出 VIN 触发关断的35%和65%时触发故障、直至值恢复到阈值范围内。 如果您处于这些 参数范围内、除非触发其他条件、否则器件很可能正常运行。
4)我认为短预充电时间不会是问题、因为器件会等待进行软启动、直到 SCAP 充电1/2Vin。 现在、如果预充电时间过长、则会延迟启动、如果您可以、这不是问题。 如果 SCAP 过大、真正的问题将是处于稳定状态、 它可能会降低系统速度、尤其是在瞬态时。
5) Vin 斜升、一旦高于 UVLO、EN 引脚就会上升、SCAP 预充电至1/2 VIN、然后开始软启动、 VOUT 斜升、PGOOD 变为高电平。
SCAP 预充电导致的延迟可参见 DS 的公式1:
此致、
Eileen
尊敬的 Eileen:
感谢您的解释。 我有几个后续问题:
我尝试使用 SIMPLIS 等仿真软件来仿真更改 SCAP 大小对电路瞬态响应的影响。 不过、我发现无论 SCAP 是大还是小、瞬态行为都几乎保持不变(例如、当负载从50%阶跃到100%时)。 这是可能的吗? 这让我想知道 SCAP 大小对瞬态性能的实际影响是什么。
根据数据表、预充电电流约为10mA。 您能解释一下这个电流的来源吗? 是否可以从外部控制此电流? 因为如果我想使用更大的 SCAP 但仍希望缩短预充电时间、则需要更高的预充电电流。