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器件型号：TPS7H2140-SEP Thread 中讨论的其他器件： TPS1H100-Q1
工具/软件：
尊敬的 TI 支持团队：
我们目前正在评估 TPS7H2140-SEP 器件、用于输出短路保护和重复故障寿命至关重要的高可靠性应用。
我们已经查看了数据表和应用手册、但想确认以下几点：
1.**短路耐久性**：
TPS7H2140-SP 器件是否针对重复短路情况进行任何内部或外部鉴定测试（例如，基于 AEC-Q100-012 或类似情况）？
-如果是这样,器件可以承受多少次开/关热保护周期（通过热摆动或热关断）而不会出现性能下降?
2.**与其他 TI 器件的比较**：
我们看到了有关其他 TI 器件（如 TPS1H100-Q1）的文档（例如 SLVA709A）、这些器件已通过 AEC-Q100-012 规范并经过 100 万个以上的短路周期。
-我们是否可以考虑 TPS7H2140 的类似稳健性、即使它不是智能电源开关？
3.**失败标准**：
如果在重复短路条件下长时间运行（例如，输出短路且功率损耗为~57.6W）、是否存在预期的降级模式或失效前时间表征？
如果您能提供相关的测试数据、设计裕度注意事项或有关高重复短路条件使用限制的指导、敬请期待。
此致、
