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[参考译文] UC3846:芯片的应用问题

Guru**** 2359070 points
Other Parts Discussed in Thread: UC3846
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1532967/uc3846-the-application-issues-of-chips

部件号:UC3846

工具/软件:

这是一个古老的项目、自 27 年前就已存在、没有任何设计更改。  这次生产 WSM-400t 时,存在大电流太小的问题。  技术要求是 400A,但实际产出只有 392A。  在生产的 500 个产品中、200 个有缺陷。



经过研究和开发分析、已证实该问题是由 UC3846 异常引起的。  目前、初始分析显示 UC3846 的输出脉冲宽度已减小。  问题是什么?应如何解决?


已进行 A-B-A 交叉验证、穷人遵循 IC。




实际测试结果:

COMP 3.1165V 损坏


好的。  薪酬 3.14



好的。  CS+ 712.5mV

错误的 CS+基本相同



错误的 Vref 4.93V

好的。  Vref 4.98V

预计 Vref 的波动范围过大、会导致输出电流降低




将四个电阻器 2R49 修改为 2R52 可以增加输出。  但是、这四个电阻器的电阻值有时需要降低、有时需要增大、才能使输出达到 400A 左右;否则、它将达到 390A 左右。  这种异常是否可以确定 Vref 的波动范围过大?  是否有任何其他原因和解决方案

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    您好、

    如果这是一个为期 27 年的项目、并且由于 IC 占空比较小、您确认了问题、则需要确定占空比是否仍符合数据表最小值规格。 如果是这样、您需要调整设计、因为您的设计需要满足最小规格。

    如果您确认 IC 不符合数据表规格、则需要启动故障分析流程来报告此问题。

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    抱歉、这是 2017 年的设计




    现在采用相同的设计、但占空比有时会很大、有时会很小。 A-B-A 测试发现它位于芯片之后。 此外,不同芯片的 Vrefs 也有所不同。 我想知道此占空比是否受 Vref 的影响、或者您还认为它受什么影响?

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    您好、

    占空比变化通常意味着反馈环路不稳定。 VREF 噪声也会导致此问题。 您可以测量 VREF 和波特图来找出答案。