[参考译文] BQ76907：是测量仪表 Level2.zip、可用于从 BQ76907 查找 SOC

尊敬的 Kartha：  

感谢您的耐心。 您在代码库中似乎遇到了一些问题。

我的假设是、您在  demos 下为 BQ7690x_control_I2C 使用 MSPM0 SDK dev.ti.com/.../node 如果没有,你可以尝试下载一个,看看你是否仍然看到库问题.  

由于这与 MSP 的 SW 部分有关以执行电量监测、因此我将把这一主题转移到 MSP 团队以获得更好的支持。 如果需要、请在 BQ76907 特定问题上发布另一篇文章。  

此致、  

Arelis G. Guerrero  

尊敬的 Arelis：

希望您做得好。

我想澄清一下、我不使用 TI 的 SDK、而是使用内部框架、该框架包含自己的 I2C 库、并按预期运行。

但是、我遇到了链接问题、即编译器无法解决以下符号：

• CL_Handler
• IGauge_Handler
• Mix_Handler

这些似乎是 Gauge_L2_V1.1.lib 库的一部分。 虽然我已将该库包括在 makefile 中、如下所示、但仍然无法识别函数：

• src +=$(addprefix $(SoC_PATH)/、Gauge_User Config.c)
• src +=$(addprefix $(soc_path)/、Gauge_App .c)
• ldflags +=-L$(app_prog_path)/$(soc_path)
• ldlibs +=-l：Gauge_L2_V1.1.lib -l：IQMath.a

我怀疑这个问题可能是由于与 arm-none-eabi 工具链的兼容性造成的。 您是否可以提供 .a 两者的版本 Gauge_L2_V1.1 以及 IQMath 使用构建的库 arm-none-eabi？ 我认为这可以解决联系问题。

感谢您的支持。

此致、

Kartha.

1. 我注意到函数 App_PackRecordSave(&battPackRecord); 在的主循环中被调用 main.c。 考虑到累积的电荷仍然不受干扰、是否有必要将 SOC 相关数据保存到闪存中？ [EASON]：不、这是保留的、用于在从 MCU 上移除电池时 MCU 将断电的条件。 对于常见应用、则不需要。
2. 假设 NORMAL 模式下的电荷积分每 250ms 发生一次、那么为了获得更高的精度、是否应该将 SLEEP 模式数据收集间隔缩短为 1 秒或类似的值？ 【伊森】：不是真的需要。 我想您可以让电荷积分每 1 秒发生一次。  该测量仪表算法具有数据融合功能。 它可以减少流量计误差。 请注意、光度计误差包含 ADC 增益误差、ADC 失调电压误差和累积误差。 您所做的只是为了改善累积误差。
3. 是否需要调用 App_AlgorithmInit(pGaugeApp);,或者我应该只调用主循环中的函数? [EASON]:你应该叫那个。 原因是我们需要对测量仪表参数进行初始化。

您可以使用 TI-Clang 编译器吗？ 这样会容易得多、而且它的合规效率将高于 GCC。 对于 gcc 支持、我需要一些时间进行检查。

您好 Eason

鉴于正常模式下的电荷积分每 250ms 发生一次、我应该将睡眠模式数据收集间隔缩短为 1 秒还是缩短类似的值以提高准确性？ 【伊森】：不是真的需要。 我想您可以让电荷积分每 1 秒发生一次。  该测量仪表算法具有数据融合功能。 它可以减少流量计误差。 请注意、光度计误差包含 ADC 增益误差、ADC 失调电压误差和累积误差。 您所做的只是为了改善累积误差。

我想澄清的是：

在 NORMAL 模式下、BQ76907 每 250ms 集成一次数据 (PASSQ)、而在 SLEEP 模式下、根据我的配置、每 20 秒进行一次数据集成。 我的问题是、是否有必要在睡眠模式下提高数据收集频率。 如果频率不增加、它是否会影响器件从睡眠状态恢复后 SoC 和 SoH 估算的准确性？

而  TI Clang 编译器并不适用于公司的框架工程 、我们拥有的是 arm-gcc 和“keil/MDK_ARM_5.40/arm/ARMCLANG"。“。 我们是否可以使用 ARM-CLANG 编译器而不是 TI-Clang？ 如果是、我将尝试使用它。

谢谢。此致、

Kartha.

很抱歉晚回复

1.我认为 MSP 和 BQ76907 之间的唤醒频率可能不同。 对于 MSP 端、唤醒电流将非常低。 您可以将相同的测量数据输入到测量仪表算法中。

2.我将根据 BQ76907+arm-gcc 为您提供一个代码示例。 明天之前我会将它分享给你。

非常感谢