工具/软件:
尊敬的德克萨斯团队:
我希望此消息能帮您找到答案。
我很荣幸地介绍了我们最近在使用以下批次 TPIC6B596DWR 组件时遇到的一些问题: 3CAF8HT、3CAF8GT、42A1EST 和 37DX83T 。 这些组件以前工作正常、但现在出现了意外行为。
经过调查、我确定了 IT 和工程团队传达的两个重要更新:
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PCN #20221013001.2(2022 年 10 月) :本产品变更通知概述了向 DMOS6 工艺的迁移 ,包括 300 毫米晶圆,键合线材料从金 (Au) 改为铜 (Cu),以及封装结构的修改,尽管没有正式声明形式、配合或功能的变化。
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更新了数据表(修订版 B–SLIS095B、2025 年 3 月) :此修订版保留了主要的电气规格(如 RDS (ON),电压,电流和温度范围)、但引入了编辑更新和修订的注释。
为了更好地了解故障的潜在根本原因、请提供您的支持以澄清以下几点:
μ s 关于 PCN #20221013001.2(2022 年 10 月)
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您能否证实上述更改、尤其是 300mm 晶圆(DMOS6 工艺)、铜键合线和封装修改的使用情况?
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关键电气参数或热参数(例如,RDS (on),峰值电流,雪崩能量或热分布)是否有任何变化记录?
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变更后进行了哪些验证测试(例如产量分析,可靠性测试或生产线重新鉴定)?
μ s 关于更新后的数据表(修订版 B–SLIS095B、2025 年 3 月)
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您能否概述修订版 A 和修订版 B 之间的具体差异、尤其是在容差、技术说明或 SRCK、RCK 和 SRCLR 等控制信号时序方面?
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是否有任何可能对组件在我们的应用中的性能产生细微影响的更改?
μ s 批次相关的辐射结果
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您的内部记录中是否存在已知技术偏差或客户投诉的上述代码 (3CAF8HT、3CAF8GT、42A1EST、37DX83T)?
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是否可以将这些批次或近期批次(例如 3CAF8HT 或 37DX83T)中的样本发送给我们进行基准测试和比较?
μ s 质量历史记录和实用建议
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您是否有任何与受影响批次相关的可用故障分析 (FA) 报告?
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是否有关于焊接曲线(回流)、电感负载使用或去耦实践的任何特定于修订版 B 版本的技术说明或建议?
我们非常感谢您的关注和合作。 我们完全可以提供样片、技术数据或任何其他信息来支持您的分析。
提前感谢您的支持!
