[参考译文] BQ25960H：器件失效 μ H

您好：

您好建平：

您能否联系分配给您的现场质量工程师 (FQE) 和现场应用工程师 (FAE)、以协助完成故障分析流程？ 我也会联系他们。

在 您发送商品之前、我想快速检查一下、以便更好地了解问题。 您能否帮助回答以下问题：

• BQ25960H 会出现什么问题？
•  执行了什么实验？
• 什么是故障率 ？有多少设备受到影响？
• 问题 发生时、您是否有任何寄存器日志？
• 器件是否 仍通过 I2C 通信？
• 可以 启用充电吗？

此致、

Alec

您好 TI、

我们遇到的问题如下：

1. 我们进行的实验是小角跌落测试。 通过跌落测试后、我们检查了功能、发现 OTG 功能异常、但充电功能正常。
2. 我们总共安排了 10 台机器进行实验,只有一台机器出现故障。
3. 发生故障后、我们发现机器的关断漏电流为 100mA。 因此、我们选择使用热成像来对故障进行故障排除、而不是捕获日志和寄存器值。 结果发现 BQ25960H 过热。 然后、我们进行了交叉验证、并确认故障与 BQ25960H 相关。

我们已经联系了相应的 FAE。 您能否帮助协调并推动进一步的分析？

谢谢！

您好 TI、