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[参考译文] BQ25792:生产中电池热插拔期间的 TS/PROG 引脚损坏

Guru**** 2455590 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25792

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1543017/bq25792-ts-prog-pin-damage-during-battery-hot-plug-in-production

器件型号:BQ25792


工具/软件:

尊敬的 TI 团队:

我们使用的是 BQ25792RQMR 充电器 IC 在我们的产品和大规模生产过程中偶尔会遇到问题 TS 引脚损坏(短接至 GND) 热插拔时的电流。

最初、我们怀疑 ESD 是根本原因、并在 TS 线路上添加了外部 ESD 保护元件。 但是、在极少数情况下、该问题仍然存在。

在某些情况下、我们观察到不仅对造成了损坏 TS 引脚 ,但也对 PROG 引脚 以及偶尔出现的其他引脚。 这使我们怀疑 ESD 是否真正是根本原因、因为 ESD 损坏通常仅影响外露的引脚、而不是多个内部节点。

我们附上了原理图的相关部分以供您审阅。
如果您能帮助检查以下各项、我们将不胜感激:

  1. 如果围绕 TS 和 PROG 引脚的原理图设计显示正确、

  2. BQ25792 是否出现过类似的故障情况、尤其是在电池热插拔事件期间?

  3. 是否有其他建议(例如滤波,保护,时序控制)来防止此类故障?

感谢您的帮助。

此致、

Tom

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    您好、Tom、

    关于 1、我认为原理图上没有问题。

    关于 2、我在此设备上未看到与热插拔相关的 TS 和 PROG 损坏。  我见过 BAT 和 SYS 损坏(也可能是 TS 损坏)、但仅当热插拔充满电的 4 节电池时。  在这些情况下、我们建议使用 TVS 二极管来防止>20V 的电压尖峰。  如果在连接电池组 GND 之前施加了 TS 引脚和 BAT 引脚电压、则我发现其他器件上存在损坏。   

    关于 3、您是否可以监控示波器上热插拔处的 BAT 和 TS 引脚电压并查看是否存在异常?

    此致、

    Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    感谢您的回复和分享您的体验。

    在我们的例子中、电池通过连接器连接到充电器电路、因此 VBAT 和 GND 之间确实可能会出现上电序列问题。 我想问一下、如果是这种情况、我可以为电路添加哪种保护来防止出现这个问题? 我需要在下一次生产运行之前实施一些对策、看看它们是否有效。

    此致、
    Tom

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    您好、Tom、

    在提出建议之前、我 会查看插入时 BAT 和 TS 引脚的示波器电压测量值。  在这种低电压下、引脚的拉取可能超过低于接地电平的二极管压降。 因此、TS 和 PROG 上的肖特基二极管钳位可能会正常工作。  我可以看到 PCB 布局吗?  PROG 和 TS 引脚电阻器接地如何返回到 IC GND 引脚?  

    此致、

    Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    感谢您的答复 。

    插入电池时、在 TS 引脚上未观察到电压波形。 只有在插入适配器后才会出现波形。 PCB 布局和波形图如下所示。

    此致、
    Tom

       

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    您好、Tom、

    布局看起来合理。 我不能确定这还能是什么。  没有其他人报告 PROG 或 TS 损坏。  我最好的建议是添加肖特基二极管来钳制这些引脚以及添加 BAT 和 BATP 来防止欠压。

    此致、

    Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    请问添加肖特基二极管是否与添加 TVS 二极管具有相同的效果?
    我以前曾尝试在 TS 引脚上添加 TVS 二极管、但它似乎没有任何影响。

    此致、
    Tom

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    您好、Tom、

    添加 TVS 二极管可防止过压。  添加肖特基二极管可防止欠压。  如果输入电压和输出电压分别延迟 30V 和 20V、我预计不会出现过压。

    此致、

    Jeff