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器件型号：UCC21750工具/软件：
尊敬的团队：
您能帮助我们分享有关 DESAT 功能的更多材料吗？ 客户担心性能、因为在进行 短路测试时、IGBT 会损坏 10 次测试。
BRS、
Francis
您好、Francis、
感谢您的联系。
了解有关 DESAT 功能的更多信息。 您可以查看数据表中的第 8.3.7 节、如下所示。
如果客户在短路测试期间看到 IGBT 损坏、则消隐时间可能过长、并且/或 VDS 阈值可能过高。 客户可以使用产品页面上的 Jolt 计算器检查 VDS 阈值和消隐时间并进行相应调整。 如果问题仍然存在、我建议捕获波形。
此致、
Muiz
尊敬的 Mulz：
感谢您的详细回复、客户表示他们需要 1us SCP、UCC21750 DESAT 延时约为 750ns、您能在这里帮助您提供专业建议吗？ 还有其他选择吗？ 提前感谢。
15Vgs 为 2us、18Vgs 为 1us。
BRS、
Francis
您好、Francis、
您能为我提供一个波形、其中显示了短路测试期间 DESAT 电压、集电极电流 (Ic)。
要 计算您的 VDS 阈值、您可以使用 Jolt 产品页面上的计算工具。 该工具称为“SLUC695—UCC217xx XL 计算器工具“、位于产品页面的“设计和开发“部分。 我在下面附上了一个链接：
UCC21750-Q1 数据表、产品信息和支持|德州仪器 TI.com
在该工具中、您会看到下面所示的 DESAT 计算器、您可以使用该计算器计算 VDS 阈值。
