[参考译文] TPS61033：器件会烧坏、有时在几天后偶尔会无法使用

尊敬的 Dima：

您能否提供发生损坏时的测试条件和波形？ 比如 Vin、Vo、SW、IL？

期待您的答复。 谢谢。

Aurora

我没有发生损坏时的波形。 但是、我查看了您在运行过程中提到的点的电压、并注意到也许问题出在 SW 上、此时 Vin 和 VSYS 看起来都很好。 附加照片：

V_SW



V_IN



V_sys

尊敬的 Dima：

您是否以全带宽测试了您的软件？ 如果是这样、这似乎是正常的、因为在全带宽测试下、MOSFET 开关时会出现一些振铃、这与某些寄生相关。

当前的故障率是多少？ 在测试过程中、哪种系统最有可能出现故障？ 另外、如果您能为该器件提供布局、将会很有帮助。

谢谢。

Aurora

尊敬的 Aurora：
如果全带宽的平均值是高电流、则没有 我在 100mA 周围的电流下进行测试。
我确实在规范中看到、SW 上的–1.4V 超出了端子电压范围的绝对最大额定值 — 这是否会是问题？  

VSW 及电路汲取的电流：



连接布局：


具有更高分辨率的 VIN：



具有更高分辨率的 Vout：



此致、
DIMA

尊敬的 Dima：

我指的是示波器设置的全带宽。 此外、是否使用最小环路测试 SW 可能会影响​​您看到的最大和最小值。

此外、为什么 Vin 波形上存在如此大的纹波？ 一般来说、Vin 应该是一个相对稳定的直流电压。  可以增大 TPS61033 的输入电容吗？

Aurora

您能增大 TPS61033 的输入电容吗？

是的、我将输入电容器升至 22uF。

 

测试过程中哪一个系统最有可能失败？

发生故障的器件上的 SW 和 GND 之间发生短路。

尊敬的 Dima：

感谢您的答复。  增加电容器是否改善了这种情况？  客户当前的故障率是多少？  关于测试条件、我想知道的是客户在发生损坏时进行了哪种测试、例如满负载测试、负载瞬态测试等  此时的输入和输出条件是什么？

Aurora