工具/软件：
在我们的产品中、我们将 BQ25792 配置为执行连续 ADC 转换。 我们还在寄存器 0x14 中启用 EN_IBAT。 由于某种原因、当充电器处于快速充电模式时、返回的 ADC 测量值无意义。 例如、我们读取到内核温度、 IBAT_ADC、VAC1_ADC、VAC2_ADC 和其他电压反弹的负值通常报告明显无效的测量值。 我们的产品在 VAC1 上使用 USB-C PD 输入、在 VAC2 上使用直流桶形连接。 如果我禁用电池充电、则测量结果会恢复为现实并报告可信的值。 这种情况在快速充电模式开始时似乎更频繁。 我注意到的另一件事是、当该装置由直流桶形连接器供电时、它似乎更为普遍。
非常感谢任何帮助。
此致、
Paul
尊敬的 Jeff：
这种情况可重复发生。 我们为 3S2P 充电所允许的最大电流为 1.0A。 因此、当充电器以该电流充电、并且充电器从 VAC2 输入端运行时、值会到处抖动。 我使 ADC 测量连续运行、转换分辨率设置为 15 位。 ADC 平均值计算被禁用、简而言之、reg 0x2E 设置为 0x80。
“微粒度测量“不限于 VAC1 / VAC2。 例如、BQ 芯片温度从正数变为负数。 例如、如果禁用充电并且读取 TDIE ADC 寄存器（寄存器 0x41）、则可以得到一个可信值：0x005F = 95、然后* 0.5 度/位= 47.5 度。 现在、如果我打开充电并读取同一个寄存器、则会得到 0xFF32、因为它是二进制补码、这是–206 * 0.5 =–103 度、这显然无效。 我将使用 TPS25750 I2Cr 命令手动读取这些值。 我还尝试了禁用 EN_IBAT、但这未解决。
很奇怪的是、如果我从直流桶形输入 (VAC2) 运行、它会显示虚假的测量值。 但是、如果我转而使用 USB-C PD (VAC1)、则测量结果是正常的、即可信。 根据您的问题、我已经使用电路板上的 DMM 测量了电压。 当我说测量没有意义时,一个例子是: VAC1 = 15.1V 但我得到的读数是 6.0V。
我附上了 BQ25792 原理图的一个剪辑、
此致、
Paul
