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部件号：CSD19533KCS主题中讨论的其他器件：TIDA-01371、
工具/软件：
您好：
我观察到 在大电流超声波序列期间、CSD19533KCS RDS（用作浮动 LDO 稳压器 TIDA-01371 上的旁路晶体管）降级。
我想弄清楚这种现象会发生什么、以及在我的设计中是否可以使用更好的元件。
流经晶体管 RDS 的电流图形是 330ms 周期 方波：导通状态 7A * 600us * 25V、关断状态 0A * 329.4ms * 35V。
很明显、在线性曲线中使用了导通状态晶体管。
首次测量全新电路板上的 RDS（使用万用表，电路板完全断开）时、晶体管（引脚 2 和引脚 3）上的 RDS 为~17KR。
然后运行 上述模式、我 通过在电路板断开连接时进行测量来观察 RDS 老化。
RDS 显著下降：测试前 17k Ω、100 个脉冲后 100 欧姆、70 000 个脉冲时 30 欧姆。
电路板长时间保持未连接状态时、RDS 会略有恢复：60 小时（周末）后 30 欧姆-> 60 欧姆。
我发现一些旧电路板的晶体管 RDS 低至 1 欧姆。 我已经将晶体管与电路板断开、旁路晶体管都具有 1 Ω RDS。 用万用表测量的。 TIDA-01371 调节在高电流脉冲期间仍有效->因此、我研究了电压命令。
我注意到随着时间的推移 VGS 命令发生了变化、并且 VGS 在关闭状态期间为负：
- 60 个脉冲：导通状态 VGS =+2.8V、关断状态 VGS =–2.3V
- 100 000 个脉冲：导通状态 VGS =+1.5V、关断状态 VGS =–2.3V
1–我是否观察到由于热应力或反向栅极电压而导致的漏源电流？
2 — 晶体管由于负 VGS 而耗尽?
3–我是否按照我描述的模式在安全区域 (SOA) 之外操作晶体管？
