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[参考译文] BQ76952:采用堆叠配置的 bq76952 偶尔会锁定 I2C、并在 SCD 事件后关闭 FET

Guru**** 2606555 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76952

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1578609/bq76952-bq76952-in-stacked-configuration-occasionally-locks-i2c-and-turns-off-fets-after-scd-event

器件型号:BQ76952


我使用两个采用堆叠监测器配置的 bq76952 器件构建具有低侧开关的 96V BMS。 大多数情况下、系统能够正常工作、包括在发生短路事件 (SCD) 期间。 当发生 SCD 时、SCDL 锁存器会按预期触发、然后 MCU 执行预充电序列。 这将正常工作、之后 MCU 继续运行而不会出现任何问题。

但是、在某些情况下(发生时完全随机)、系统的行为有所不同。 在 SCD 事件期间或之后、下部 bq76952(测量电流和底部电芯)在 I2C 上停止响应。 此时 FET 也会关断。 上部 bq76952(监测顶部电池)继续正常运行并不断更新数据。

以下是故障发生时我观察到的情况:

  • REG18 保持在 1.8V

  • TS2 保持高电平。

  • LD 引脚连接至 GND。

  • GND 平面在电源部分、监控 IC 和 MCU 之间分开。

  • 恢复通信和功能的唯一方法是重新初始化两个 bq76952 器件。

  • 在一种情况下、即使重新初始化也无益、只有完整的下电上电才能恢复操作。

使用逆变器或电机负载、我可以在不损坏 MOSFET 的情况下重复触发 SCD 事件。 有时、系统可以无问题地处理 30 个连续的 SCD 事件、但随后随机连续出现 2-3 次故障。

是否有人看到 bq76952 采用堆叠配置或低侧开关设置时有类似的行为?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Rayvano:

    如果引脚 SRP 和 SRN 在 SCD 事件期间都出现高电平(高于~0.75V)、这可能会触发发生某种复位类型、我想知道这是否与您看到的内容有关。

    通常、我们期望 SRP 上的电压保持在 0V((VSS 引脚的电压)附近、但根据布局、有时我们会发现客户通过分流电阻器附近的串联 R 连接 SRP、但 VSS 连接到分流器的距离更远。  然后、在短路期间、该布线上会有大电流流动、SRP 可能会出现电压与 VSS 引脚电压间的关系上升、这可能会导致这种影响。

    要对此进行调试、您可以考虑短接 SRP 和分流电阻器之间的 100 Ω 串联 R、看看这样是否有助于防止这种情况发生。  如果是、这将有助于确定负责的机制。  然后、为了在生产中解决该问题、您可以考虑将 100 Ω 电阻器短接、也可以在 SRP 引脚和 VSS 之间添加一个 100nF 电容器、这有助于在短路瞬态期间将 SRP 上升到远高于 VSS。

    要在发生这种情况时从这种情况中恢复、如果您的系统设置为允许、您可以尝试在底部器件 RST_SHUT 引脚上施加短脉冲(10ms 至 500ms 宽度)。  这可能会恢复操作。

    另一个调试步骤是、发生这种情况时、您还可以将 TS2 引脚驱动至 GND、然后再次恢复为高电平(例如,恢复至 1.8V)、并将 LD 引脚驱动至 0V、然后升高到~1.5V 以上、每个引脚的持续时间~100ms、以查看是否恢复通信。

    谢谢、

    Terry