您好：
我们将在具有 2 个并联充电和 2 个并联放电 FET 的电池充电系统中使用 BQ76200。 我们希望联系应用工程师以讨论我们的具体实现、并帮助解决我们遇到的一些实验室 FET 故障。
我们的实现方案与标准建议应用略有不同、因为 BQ76200 电荷泵的电源（即 IC 上标记为 BAT 的引脚）是通过 PMOS 开关供电的、并由“enable_switch"控制“控制、在我们的例子中、该开关是物理干接触开关。 它与应用手册 SLUA795（最大限度减小 bq76200 的关断电流）图 3 建议的实现非常相似。 在我们的系统中、有其他负载（标记为“O.L."）“）连接到该“VCP"电源“电源轨、我们也会在系统禁用时关闭这些电源逻辑元件。 同样、这似乎符合 TI 在 SLUA795 中的建议。
我们的实施方案：
SLUA795 建议：
当我们的系统处于关断状态（ENABLE_SWITCH 断开）时、CHG FET 的源极连接到电池电压 (25-45V)、但 BAT 引脚基本上悬空。 在正常运行（非关断）期间、ENABLE_SWITCH 会闭合。 但是、也可以在运行的任何时刻（充电，放电或空闲）关闭 ENABLE_SWITCH（即 BQ76200 可能会丢失 BAT 引脚的电源）、我们需要系统平稳关断而不会损坏。
最近、我们在系统集成测试期间遇到 CHG FET 故障、导致两个 CHG FET 出现高阻抗短路（5k Ω 至 20k Ω）。 我们正在寻找这些故障的根本原因、并希望 TI 审查我们的实施情况。 具体而言、我们有以下问题：
1) 您是否发现我们的实施方案中存在任何可能导致 CHG FET 损坏的潜在问题？ 我们是否有办法通过电子邮件与您分享我们的原理图以供审阅？
2) 在我们的实现中（以及 TI 建议的 SLUA795 实现方案中用于关断 BAT 引脚电荷泵）、CHG FET 的 Vgs 似乎可能会暴露在充满电的电池电压下 — 即当 ENABLE_SWITCH 关闭时、尤其是在充电或放电期间发生这种情况时、BAT 电压将开始下降、因此 CHG 泵基准将从 CHG FET 源漂移。 我们想知道这是不是个问题、或者 BQ76200 中是否有内部保护功能来阻止这种情况发生、或者我们需要向 FET 栅极添加保护来阻止这种情况造成损坏？
谢谢
Alex
