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[参考译文] UCC27211A-Q1:封装热参数

Guru**** 2694485 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1598281/ucc27211a-q1-package-thermal-parameter

器件型号: UCC27211A-Q1

您好的团队、  

DDA 封装具有散热焊盘、而 D 封装没有散热焊盘。  

我可以理解、DDA 封装具有更好的结至环境热阻。 但为什么 D 封装具有更好的结至外壳热阻?  

image.png

谢谢!

Ethan Wen

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ethan:  

    RθJC 适用于芯片耗散功率通过器件封装单个表面(外壳顶部或底部)传导的条件。 这意味着 RθJC 参数通常适合以下条件:仅散热连接在封装顶部(或底部)、其中 90%以上的热量来自顶部(或底部)、这与 JEDEC 测试条件非常相似。  

    您可以在此处阅读有关评估结 温的更多信息:如何使用热指标正确评估结温

    我正在内部发送此邮件、以获取有关此特定器件的更多信息。  

    此致、

    Amy

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    尊敬的 Ethan:

    DDA 封装中的引线框具有更深的下行设置、以便将散热焊盘暴露在外。 这意味着在 DDA 封装中芯片和封装顶部之间的距离更大、因此该距离内的热阻更大。

    此致、

    Amy