请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号： TPS61165
您好：
我尝试使用仿真模型并运行带有温度扫描的 PSPICE for TI 仿真。
我看到该器件的 PSPICE 模型定义了 TNOM=27、而温度扫描的温度如 28C 26C、如果我将它们设置为大约 35°C 或 50°C。 我在瞬态偏置点计算中遇到了收敛问题。
这些设备无法收敛：x_U1.D_D31 X_U1.D_D30 X_U1.X_U26.D10 X_U1.X_U94.D_D10
如果对于温度扫描、将温度设置为 105°C 左右、那么二极管模型 DD 上会出现溢出错误
错误 (ORPSIM-16551)：在设备/模型加载期间浮点计算失败。 可能的解决方案：1) 确保所有设备参数均在有效范围内。 2) 尝试使用.options 限制设备 D_D1 中的溢出、Exp (885.227) 内部错误--设备 D_D1 中的溢出、Exp (885.227)
请在这方面提供协助、
小温度增量似乎是有效的、但合理的温度增量似乎存在问题、而较高的温度（例如 105°C 和–40°C）用于评估峰值电流等。这是我希望在实验室测试之前看到的结果。
我确实尽可能在原理图中向电感器、电阻器等元件添加了温度系数。
