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[参考译文] BQ25886：BQ25886 IC 故障分析和预防指南

admin
Guru**** 2782485 points

Other Parts Discussed in Thread: BQ25886

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1612726/bq25886-bq25886-ic-failure-analysis-and-preventive-guidance

器件型号： BQ25886

尊敬的团队：

我们之前基于 BQ25886 IC 开发了充电器设计。 最近、我们在交付给客户的一个生产批次中遇到问题、即 BQ25886 IC 在多个电路板上出现故障、在器件上观察到明显烧毁。我们目前正在调查此故障的根本原因、感谢您提供支持来确定 IC 损坏的潜在原因以及防止再次发生的建议。 在初始开发阶段、我们共享了原理图和 PCB 布局以进行审查、这些原理图和 PCB 布局在当时进行了验证。我们附加了受影响电路板的图像、显示了 IC 损坏、以供您参考。 请告知我们是否需要我们一方提供任何其他信息或测试数据以协助分析。

设计规格：

输入电压 (VIN)：5V 适配器

电池配置：2 芯锂离子电池（最大 8.4V）

充电电流 (ICHG)：2A

我们期待您提供有关可能的故障机制以及设计或保护改进的指导、以便将来避免这种问题。

 




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    TI__Guru**** 2782485 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好：

    感谢您联系我们。 请提供原理图和布局、以便我们进一步评估该观察结果。 我们需要更多的信息来调试此问题。

    此致、

    Mike Emanuel

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    TI__Guru**** 2782485 points
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    您好、Michael：
    已在私人聊天中共享文件。

    此致、
    Vinay

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    TI__Guru**** 2782485 points
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    尊敬的 Vinay：

    我看到我们之前检查过这些文件。 您是否尝试过 TI EVM 上的相同设置？

    此致、

    Mike Emanuel

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    TI__Guru**** 2782485 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Michael：

    我们没有适用于此器件的 EVM。 我想更好地了解 IC 可能被损坏的情况、如您分享的图像所示。

    具体来说、我正在尝试确定这是否可能与设计问题有关、或者客户侧是否出现可能导致故障的异常。 在我的测试中、我施加了接近 25V 的 VIN、并且输入 OVP 始终在 6.6V 时触发、从而阻止 IC 在过压条件下运行。

    鉴于这种行为、我很难理解 IC 如何承受这种性质的损害。 如果能深入了解可能导致此类故障的可能场景或运行条件、我们将不胜感激。

    此致、
    Vinay

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    TI__Guru**** 2782485 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Vinay：

    请下 EVM 订单、以便更好地了解客户设置和 TI 设置之间的差异。

    绝对不应对 VBUS 施加 25V 电压。 ABSMAX 为 20V。 客户是否施加了此电压？

    为了让 TI 了解问题、我们需要知道施加的条件。 我们无法从中间有孔的设备推断理论。

    此致、

    Mike Emanuel

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    TI__Guru**** 2782485 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您绝对不应对 VBUS 应用 25V 电压。 ABSMAX 为 20V。 客户是否施加此电压？

    VBUS 的正常运行条件为 5V、由 5V 适配器供电、这就是该产品在客户端的使用方式

    客户未对 VBUS 施加 25V 电压。 在基准测试期间、在我们的终端施加了 25V 条件、评估 IC 是否会在过应力条件下损坏。 我们观察到、即使在施加 25V 电压几秒钟后、IC 也没有受到任何损坏。

    为了让 TI 了解该问题、我们需要了解适用的条件。 我们无法从中间有孔的设备推断理论。

    我完全理解需要知道确切的应用条件。 我将努力从客户那里获取这些信息。 同时、我们希望检查您是否在其他情况下发现了任何类似的损害、或者是否有任何其他客户报告了相关问题。 这些原因可能有多种、我们正在努力了解这些原因。

    此致、
    Vinay Mande

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    TI__Guru**** 2782485 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Vinay：

    我们使用此器件时不会出现任何问题。 我等待您对观察到的故障模式提供反馈。

    此致、

    Mike Emanuel