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[参考译文] CD74HC4067：器件未通过测试 CPR 编号 251137735

admin
Guru**** 2771175 points

Other Parts Discussed in Thread: CD74HC4067

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1613951/cd74hc4067-parts-are-failing-test-cpr-251137735

器件型号： CD74HC4067

我们有一些器件未通过测试、我们刚刚发现这些器件与 PCN # 20241217000.1 上所做的更改相关 。所有工作器件的原始芯片原产地代码下均包含该器件。   该故障批次是唯一具有 RFB 作为芯片原产地代码的卷带。  

请参阅随附的报告。

零件故障分析报告 1-30-2026.pdf 

 

我一直在与 Jimmy Zheng 合作、他请求我联系您寻求帮助。  我正在将我们的客户工程团队添加到此支持工单中

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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jeff、

    以确保我们在这里显示的是同一个页面。  
    这里的“失败“是 Ron 太低。 是这样吗？

    如果是、您能否详细说明如何在两个器件上测量 Ron？  

    谢谢、

    NIR  

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    TI__Guru**** 2771175 points
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    下面是工程师的回复。

    “我通过以下方法测试了 CD74HC4067：一次启用一个通道、并使用公共 (COM) 引脚上的模拟输入通过已知的串联电阻器测量电压。
    根据该电压、我计算了每个内部开关的有效导通电阻 (R_ON)。 我对所有 16 个通道重复了此操作、并将已知良好和故障器件的结果进行了比较。“
    另请注意、 更改芯片原产地后、所有故障器件都发生在一个批次内。
    谢谢、
    Jeff
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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jeff、

    明白了、如果他们的问题源于 Ron 的差异、我仍然没有得到确认。 您能否证实这一点？  

    现在、如果答案是肯定的、我建议按照数据表中的方法测量 Ron。 这样我们就可以比较“苹果对苹果“并查看该批次的器件的电阻是否存在问题。 此外、确保他们在测试中提及电源电平 (Vcc) 是多少。
    如果可能、我建议使用 4.5V Vcc 或 6V Vcc。  

    我们通过以下方式来测试 Ron：将电流注入 1mA、并在输出端提供直流电压源（反之亦然，但电流必须是–1mA）、测量开关两端的电压差并将其除以电流。 无需任何外部元件。


    我之所以要求他们运行此测试、是因为我想检查两个器件版本的 Ron 是否在数据表规格范围内。 为了检查我们是否需要像数据表中那样进行测试。  

    谢谢、

    NIR  

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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、NIR、

    结果如下：
    虽然数据表仅指定典型和最大 R_on 值、但我们观察到、在相同条件下测量时、不同批次的器件之间的典型 R_on 会发生显著且可重复的变化。 一组~20–22Ω 测量值、已知良好的器件测量值~30–43Ω。

    部件   CD74HC4067M96 正常工作 部件   CD74HC4067M96 失败
    标记 52AEQPT 标记 56A04GT
    HC4067M HC4067M
    G4.
    通道 mV mA Ron Ohm mV 我 Ron Ohm
    0 86.00 2.00 43.00 0 40.00 1.90 21.5.
    1. 88.00 2.10. 41.90 1. 40.00 1.90 21.5.
    2. 88.00 2.10. 41.90 2. 40.00 1.90 20.00
    3. 86.00 2.00 43.00 3. 40.00 2.00 20.00
    4. 88.00 2.10. 41.90 4. 40.00 2.00 20.00
    5. 86.00 2.10. 40.90 5. 40.00 2.00 20.00
    6. 87.00 2.10. 41.40 6. 40.00 2.00 20.00
    7. 87.00 2.10. 41.40 7. 40.00 2.00 20.00
    8. 88.00 2.10. 41.90 8. 41.00 2.00 20.50
    9. 88.00 2.10. 41.90 9. 41.00 2.00 20.50
    10. 88.00 2.10. 41.90 10. 40.00 2.00 20.00
    11. 88.00 2.10. 41.90 11. 40.00 2.00 20.00
    12 88.00 2.10. 41.90 12 42.00 2.00 21.00
    13 90.00 2.10. 42.80 13 41.00 2.00 20.50
    14 88.00 2.10. 41.90 14 42.00 2.00 21.00
    15 89.00 2.10. 42.30 15 42.00 2.00 21.00
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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、希思、

    这可能是因为一个批次是 PCN 之前的材料、另一个是 PCN 之后的材料。 这将导致一些规格差异、但仍在数据表限制范围内。   

    由于测量结果是一致的、因此是否可以在 20 欧姆的测量器件上实施 20 欧姆串联电阻？ 它可以解决由低 Ron 引起的问题。

    谢谢、

    NIR  

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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    客户提出了另一个问题。

    “我已经研究这个问题几天了、想知道您是否可以从 TI 获得一些信息。  RON 似乎不是主要问题、更像是采用新工艺时裸片中的电容问题。  该行为对 COM 负载和 COM 到 GND 的小电容非常敏感、这表明由于芯片/工艺迁移而导致电荷注入和/或有效 COM/通道电容 (CCOM、CON、COFF) 发生了变化。  这会使 LED 的行为有所不同、并且不会感应到关闭状态。 （未检测到发射器的光何时被遮挡）

    是否可以获得旧的数据表和新的数据表进行比较？“

    NIR、

    据我所知、当前版本是 D、旧版本是 C。 这是正确的吗？  您能验证并向我们发送一个旧的数据表吗？   

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    TI__Guru**** 2771175 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jeff、

    请参阅下方旧的数据表（修订版 C）。
    e2e.ti.com/.../schs209c.pdf

    我已经比较了它们之间的电容、两个数据表中似乎都是相似的。  

    简而言之、我们没有任何器件的电荷注入信息。  

    它们在线路上是否有任何额外的电容负载？  

    谢谢、

    NIR