[参考译文] BQ78350-R2-device-FW：从关机模式唤醒后，充电 FET 有时不会打开。

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Other Parts Discussed in Thread: BQ76940, BQ78350

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

部件号：BQ78350-R2-device-FW
“线程”中讨论的其它部件：BQ76940， BQ78350

我在一个应用程序中使用附带 BQ76940的 BQ78350，在该应用程序中，主微控制器会定期向 BQ78350发送关机命令以节省电量。

我经常观察到一个问题：在桥接 TS1 NO 模拟前端以唤醒电量表和 AFE 后，当电池状况为额定(安全电压，温度等)时，充电 FET 不会打开。这种情况在重置后仍然存在，清除它的唯一方法似乎是释放电池几秒钟，发送关机命令，然后唤醒电池。然后，充电 FET 将打开。

是否有可靠的方法通过 i2c 命令或更改数据闪存选项来清除此故障？每~25次充电可能会发生一次，很难跟踪。

FETOptions 寄存器被设置为默认状态，但我附加了.gg.csv 转储以确保。

谢谢！

0 admin 3 年多前

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您好，

您在 safetyalert 或 SafeetyStatus 寄存器中是否看到任何故障位设置？在 Enabled PF B 寄存器中启用 AFE_XRDY 和 AFE_OVRD PFS 可能会比较好。如果 AFE 上出现上述任一情况，BQ78350将会观察到这些情况。

我注意到，您的.gg.csv 文件的 Lifetime 数据中记录了18起 ASCD 事件。您已将充电 FET 配置为在放电电电流发生故障时关闭(DC_CHG_OFF 位在 保护配置寄存器中设置)。您认为这可能是通电的原因吗？

此致，

马特

0 admin 3 年多前

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有趣的是，我将看看转换 DC_CHG_OFF 位。我在密封设备上观察到这些故障，因此我目前正在研究代码，以检测安全警报和安全状态寄存器。

我认为大多数 ACSD 事件都是由我手动引发的，但我会绕过 DC_CHG_OFF 位。

最奇怪的部分是放电 FET 似乎打开良好(因为我可以用这些电池为设备供电，但不能为其充电)，这个问题似乎在经过一段时间后随机消失，比我对 OCDL，AOLD，ASCD 等故障的6秒恢复时间长得多。

在发生故障后，我可以看到 safetyalert & SafeStatus 寄存器，我会回来的；这将提供更多信息。

0 admin 3 年多前

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我做了一些改变，但这又发生了。在新的.g.csv 中，我进行了以下更改

1.禁用 CC_DSG_OFF 和 DC_CHG_OFF 以防止假阳性禁用。

2.将 OCDL，AOLD 和 ASCD 故障上的缓冲器的所有锁扣限值设置为3。

3.将 RSNS 设置为1，以使过载和短路放电故障变得更加困难。

故障发生后，我立即从寄存器中提取了终身故障计数，所有故障计数都是0。您是否有任何建议的解决方法？例如，使用 ManufacturerAccess 命令在启动时强制其进入充电启用状态，同时在启动后立即打开保护。

在软件中，我通常只是每秒对电压，电流和温度使用 i2c 命令。尽管在启动时(唤醒后~1500毫秒)，我确实查询数据闪存以确保它符合我们的预期。因此，它处于未锁定的完全访问状态，然后在转储数据闪存后被锁定。

谢谢！

0 admin 3 年多前

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您好，

遗憾的是，新数据闪存转储没有任何 Lifetime 数据-所有数据都设置为默认值。 Lifetime 数据不会经常写入 DataFlash，但您可以通过将设备置于关机状态，然后将其唤醒来强制写入数据。否则，它只会每10小时写一次。

是否可以尝试让它更新并重新发送闪存转储？

谢谢，

马特

电源管理（参考译文帖）(Read Only)