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[参考译文] UC1901-SP：生命周期结果- Vref，Vos，IOS 和 IB 参数漂移

admin
Guru**** 2502205 points
Other Parts Discussed in Thread: UC1901-SP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1081818/uc1901-sp-lifetest-result---vref-vos-ios-and-ib-parameter-drift

部件号：UC1901-SP
“线程： 测试”中讨论的其它部件

您好，

我们正在将 UC1901-SP 组件用于空间程序。 我们在5962-89441SMD 中看到，对组件进行了125°C/1000h 的寿命测试，但没有对以下参数给出漂移：Vref，Vos，IOS 和 IB。

因此，对于这些参数，我们猜测生命测试的成功标准是参数的初始容差。 但是，通过在飞行任务持续时间和温度上进行外推，我们的设计无法接受参数漂移。

您对此组件有更准确的数据(生命周期报告，参数漂移...)吗？

此致

尼古拉

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    TI__Guru**** 2502205 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨，尼古拉斯，

    您认为寿命测试保持在设备的初始参数范围内是正确的。
    我将看到我们可以向您提供哪些信息。

    我可以通过注册您的帐户时使用的电子邮件向您发送电子邮件，以详细讨论此事吗？

    谢谢，
    丹尼尔

  • 0
    TI__Guru**** 2502205 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，丹尼尔，

    感谢您的回答。

    是的，您可以通过此地址向我发送电子邮件。

    此致，

    尼古拉

  • 0
    TI__Guru**** 2502205 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    此操作已脱机。

    谢谢，
    丹尼尔