“线程: 测试”中讨论的其它部件
我正在对 LM5104进行初始测试,并观察在上升和下降期间传播延迟的一些奇怪的不对称性。
本测试中的我的配置:
- VDD = VHB = 12V
- 用于 HO 和 LO 的10ohm 门电阻器
- RT = 10k,标称延迟时间为90ns (根据数据表6.5,最小58ns,最大130ns)
- CB = 470nF
- 外部负载 FET:IRFR1205PBF
- 输入:100kHz,0至3.3V,可变占空比
- 我的输出半桥电源电压为20V
- 我的输出负载非常轻,~1kohm。
我可以看到,指定的传播延迟通常如下所示:
- 上升至低下降:典型值为25 ns
- 跌落到何种位置时:典型值为25 ns
- TRT 应该是~90ns 典型值
这是我的拍摄:
CH1 (蓝色)=英寸
CH3 (红色)= HO
CH4 (粉色)= LO
200ns/div
所以,在拍摄过程中,我们看到了上升趋势,~50 ns 后,我们看到了 LO Fall。
在上升100纳秒后,我们看到何俊仁的上升速度很高,考虑到 TRT 应该是90纳秒,这似乎是相当快的。
至于何种轨迹顶部的波纹,我认为这可能是不完美的探测问题。 我的半桥电源电压为20V,这就是为什么我们看到 HO 泵的电压高达约(20+12)=32V。
然后,在坠落时,我们看到 HO 在大约50 ns 后下降,这符合规格。
然而,我们看到 LO 在大约350-400 ns 后上升!
有人能帮助我理解升至何升(~100ns)与降至低升(~350-400ns)之间传播延迟的严重不匹配吗?
外部负载是否可能太轻而无法充分释放 HS 针脚,这会导致一些问题?