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[参考译文] BQ76PL455A-Q1：系统故障和芯片故障未被屏蔽

admin
Guru**** 2455560 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/660237/bq76pl455a-q1-system-fault-and-chip-fault-not-getting-masked

部件号：BQ76PL455A-Q1
主题中讨论的其他部件： BQ76PL455-Q1

您好，David：

我们使用bq76pl455a-Q1制造了定制PCB。 我能够为OV，UV，比较器和辅助通道设置正确的阈值。 但始终存在芯片故障和系统故障。

在系统故障中：sys_Reset精度(位-7)

芯片故障： USER_CKSUM_ERR (位-15)  

此错误始终存在，由于此原因，n故障引脚始终保持"低"状态。

你能帮我解决这个问题吗？

谢谢你  

Ritul Shah

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，Ritul，

    必须通过写入来清除SYS_RESET位。 此位用于向MCU指示发生POR或RESET。

    有关用户校验和的信息，请查看数据表的7.3 ．12.6 部分...，该部分应回答您的问题。 请参阅此内容，如果您有其他问题，请随时在此处回复。
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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，David：

    sys_reset故障已通过将1写入该位清除。

    但 用户校验和故障仍然存在。 我无法从  数据表的7.3 ．12.6 部分调试它。

    等待您的帮助。

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，Ritul，

     用户校验和用于 指示 某些寄存器值 已更改。 也就是说，如果 CSUM_RSLT寄存器 与CSUM寄存器不匹配，则将设置此故障。 阅读 CSUM_RSLT，并将 其存储在  CSUM寄存器中。 如果您正在写入寄存器以 永久 初始化它们， 则可以将其保存 到 EEPROM中。 虽然不推荐，但  也可以  屏蔽此 故障。

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，David：

    正如您提到的两个解决方案，

    1.要将CSUM_RSLT寄存器值复制到CSUM寄存器中，我无法理解如何执行此任务？

    2.屏蔽校验和错误故障。 我尝试通过屏蔽数据表中的寄存器编号107来实现这一目的。 但此命令不起作用

    ｛

    nsent = WriteReg (0107，0x8000，2，FRMWRT_SGL_NR)；        //用户校验和错误掩码

    delay_ms(5)；

    }

    这一问题还有什么进一步的解决办法？

    正在等待您的回复。 我们在"星期六"工作，因此如果可能，请今天回答此帖子，以便我在星期六尝试。

    谢谢

    Ritul Shah

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，Ritul，

    您应该读取 CSUM_RSLT寄存器，并 将 其存储在代码中的变量中。 在我们 的示例代码中，它可以 是wTemp，也可以 是 bFrame数组中的索引，具体取决于您的使用方式。 然后，通过将这些数据写入CSUM寄存器，将结果存储到该寄存器中。 我刚刚 在GUI上执行了此操作，可以确认这将 清除用户校验和故障

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，David：

    我尝试了你所展示的方法。

    请在下面查找代码：

    nread = ReadReg (nDev_ID，244，&chksum，4，0)；       //读取ChecksumRslt错误(寄存器编号：244，数据表)

    user_debug ("RD_checksum：%d\r\n"，chksum)；
    nsent = WriteReg (nDev_ID，240，chksum，4，FRMWRT_SGL_NR)；            //根据读数写入校验和寄存器(寄存器编号：240，数据表)
    nread = ReadReg (nDev_ID，240，&chksumstr，4，0)；    
    user_debug("checksum:%d\r\n",chksumstr);

    我在寄存器244和240上得到相同的值，但芯片故障错误仍然存在。

    可能的问题是什么？

    请帮我解决。

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，Ritul，

    您能否澄清一下您对244号登记簿的首次阅读是在做什么？ 这是单个设备读取吗？

    我还要确保您正在读取寄存器以检查芯片故障错误是否仍然存在，而不是依赖NFAULT引脚f或调试。 由于堆栈设备中的故障，仍可能断言NFAULT。
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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，David：

    我正在使用单个设备。

    我已按照您的上述说明复制并粘贴校验和。 它运行良好，消除了芯片故障。
    只有当我连续将校验和写入USERCHECKSUM时，这种方法才有效。 (在while循环中使用)。 在初始化过程中，如果我执行一次，它将不起作用。

    此外，清除芯片故障也产生了新的问题。 为我未使用的单元生成欠压比较器故障(单元编号 14，15，16)。 此错误以前从未出现过。 [我已正确选择要使用的频道。]

    请告诉我：
    1.在初始化过程中，应该将校验和读写放置在何处，这样我就不必连续触发该功能？

    2.如果我不执行校验和复制粘贴，则不存在欠压比较器故障。 如何消除欠压比较器故障？

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    TI__Guru**** 2455560 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，Ritul，

    校验和在后台持续运行。 每当您更改计算中包含的登记簿时，CRC将会更改。 这是为了通知您注册表已更改(可能来自注册位翻转)，可能是在您不知情的情况下。  

    如果需要，您可以屏蔽它，然后读回故障，查看它是否已更改。 但这是一个需要在您的端进行评估的选项。

    您能否在GUI上发送故障的屏幕截图以及您的设置？ 我不确定我是否正确理解了问题。

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，David：

    我将尝试在复制粘贴校验和后屏蔽故障。  

    我没有使用GUI。 我已经开发了具有bq76pl455-Q1的PCB和微控制器。 我正在读取故障，将其发送给控制器并在Putty上查看。

    请查找我的设置的附加视频。 希望它能帮助您了解我们的问题。

    e2e.ti.com/.../VID_5F00_2018.0317万_5F00_101222.rar</s>10.1222万

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    TI__Guru**** 2455560 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，David：

    我正面临比较器欠压故障的问题，这妨碍了我运行代码和测试系统。

    以前我遇到了校验和错误的问题，然后按照你的建议，我存储了内部校验和并将其写入USERCHECKSUM。 这解决了校验和问题，但为我尚未选择的通道生成了比较器欠压故障。

    我的系统信道：13.

    我遵循了TI软件设计参考应用手册中的配置方法。

    请在下面找到我的代码片段。

    nsent = WriteReg (nDev_ID，16，0x1080，2，FRMWRT_SGL_NR)；      //将通信波特率设置为250KBaud

    nsent = WriteReg (nDev_ID，15，0x80，1，FRMWRT_SGL_NR)；       //根据数据表的标准配置

    nsent = WriteReg (nDev_ID，14，0x18，1，FRMWRT_SGL_NR)；       //故障被解锁并自动清除，

    nsent = WriteReg (nDev_ID，12，0x08，1，FRMWRT_SGL_NR)；       //自动地址启用

    nsent = WriteReg (nDev_ID，10，0x00，1，FRMWRT_SGL_NR)； //设备地址=00


    nread = ReadReg (nDev_ID，244，&chksum，4，0)； //此寄存器包含当前内部计算的寄存器校验和。
    nsent = WriteReg (nDev_ID，240，chksum，4，FRMWRT_SGL_NR)； //此寄存器包含寄存器的编程校验和。
    nsent = WriteReg (0107，0x8000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //用户校验和错误掩码

    DELAY _US (500)；
    nsent = WriteReg (0，81，0x18，1，FRMWRT_SGL_NR)； //清除系统状态寄存器中的故障标志
    DELAY _Us (100)；
    nsent = WriteReg (nDev_ID，82，0xFFC0，2，FRMWRT_SGL_NR)； //清除所有故障摘要标志

    nsent = WriteReg (nDev_ID，84，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； // UV透明
    nsent = WriteReg (nDev_ID，86，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； // OV清除
    nsent = WriteReg (nDev_ID，88，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； // AUX清除
    nsent = WriteReg (nDev_ID，90，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； // COMP UV透明
    nsent = WriteReg (nDev_ID，92，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； // COMP OV Clear

    nsent = WriteReg (nDev_ID，94，0xFFE9，2，FRMWRT_SGL_NR)； // COMM FLT透明
    nsent = WriteReg (nDev_ID，96，0xFF，1，FRMWRT_SGL_NR)； // SYSFLT清除
    nsent = WriteReg (nDev_ID，97，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //芯片清除
    nsent = WriteReg (nDev_ID，99，0x3F，1，FRMWRT_SGL_NR)； //清除所有故障摘要标志

    nsent = WriteReg (nDev_ID，104，0xFFE9，2，FRMWRT_SGL_NR)； //掩码通信
    nsent = WriteReg (nDev_ID，106，0xDF，1，FRMWRT_SGL_NR)； //掩码系统flt.
    nsent = WriteReg (nDev_ID，107，0xE000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //掩码芯片故障

    void configure_AFE()
    ｛
    nsent = WriteReg (nDev_ID，61，0x00，1，FRMWRT_SGL_NR)； //初始采样延迟
    nsent = WriteReg (nDev_ID，62，0x44，1，FRMWRT_SGL_NR)； //电压和温度采样间隔12.6us
    nsent = WriteReg (nDev_ID，63，0x4444.4444万，4，FRMWRT_SGL_NR)； //初始采样延迟
    nsent = WriteReg (nDev_ID，7，0x00，1，FRMWRT_SGL_NR)； //反向采样率和命令
    nsent = WriteReg (0，81，0x38，1，FRMWRT_SGL_NR)； //清除系统状态寄存器中的故障标志
    nsent = WriteReg (nDev_ID，82，0xFFC0，2，FRMWRT_SGL_NR)； //清除所有故障摘要标志

    nsent = WriteReg (nDev_ID，13，0x0D，1，FRMWRT_SGL_NR)； // nchan：将单元格数设置为13
    nsent = WriteReg (nDev_ID，3，0x1FFF0000，4，FRMWRT_SGL_NR)； //选择全部13个单元格，  
    nsent = WriteReg (nDev_ID，50，0x04，1，FRMWRT_SGL_NR)； //自动监控周期10ms
    nsent = WriteReg (nDev_ID，51，0x1FFF0000，4，FRMWRT_SGL_NR)； //自动监听信道

    nsent = WriteReg (nDev_ID，144，0xD709，2，FRMWRT_SGL_NR)； //电池过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，142，0x9999，2，FRMWRT_SGL_NR)； //电池欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，141，0xB4，1，FRMWRT_SGL_NR)； //电池比较器过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，140，0x00，1，FRMWRT_SGL_NR)； //单元比较器欠压阈值

    nsent = WriteReg (nDev_ID，146，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助0欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，148，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助0过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，150，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助1欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，152，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助1过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，154，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助2欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，156，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助2过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，158，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助3欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，160，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助3过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，162，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助4欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，164，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助4过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，166，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助5欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，168，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助5过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，170，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助6欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，172，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助6过压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，174，0x0000，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助7欠压阈值
    nsent = WriteReg (nDev_ID，176，0xFFFF，2，FRMWRT_SGL_NR)； //辅助7过压阈值

    }

    此外，我还附上了我的示意图以供参考。  

    请帮我解决这个问题。 直到故障被清除，我才能够测试我的逻辑。

    谢谢  

    Ritul Shah

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    TI__Guru**** 2455560 points
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    您好，Ritul，

    我在打开您在另一个线程中发送的视频时遇到一些问题。

    是否可以尝试禁用自动显示器？

    如果可以，还请共享正在设置的故障寄存器中的值。
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    TI__Guru**** 2455560 points
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    我查看了您的视频剪辑。
    我不清楚。
    您是否仍在单元格14，15，16上存在校验和错误或OV？