主题中讨论的其他部件：BQ2.7426万
工具/软件：Linux
我正在为主线Linux驱动程序/电源/电源/bq27xxx_battery. c开发补丁集，以启用从设备树条目配置以下量表DM字段：DesignCapacity，DesignEnergy，TerminateVoltage。
TI的Andrew Davis向我介绍了以下代码，他负责驱动程序的维护。 写入DM块后，它将读取其校验和，以验证它是否与发送的校验和： http://git.ti.com/bms-linux/bqtool/blobs/master/gauge.c#line330匹配
该故障码可能损坏仪表。
我将上述bqtool逻辑应用于我的增补软件集，我们已经在两个器件上成功测试了将近100次。 我犯了一个错误，写后使用比bqtool更小的延迟(BlockDataChecksum, v)。 这导致相关DM损坏(子类82，块0)。 即使在从以下文档中将DM重置为系统默认值后，电量计也无法正确测量电池。 http://www.ti.com/lit/ds/symlink/bq2.7425万-g2a.pdf
我注意到另一个DM字段超出范围(子类105，偏移0)，但我无法将其重置为CPU_to_be32 (0x3ef1205c)，十六进制自：Perl -e 'printf ("%08x\n")，解包("i"，pack ("f"，0.4.7095万)))'
我计划在主线驱动程序中记录此硬件错误，如下所示： https://github.com/networkimprov/linux/blob/anvl-v4.9 bq27x-dt-dc/drivers/POWER/supply_bq27xxx_battery.c#L880 8.1
我想知道：
1)为什么我无法重置子类105，偏移0？ (注意：在损坏之前，我无法重置子类82，偏移36。)
2) BQ27*系列中的其它仪表是否有此错误？ 其中一些模块在不同的DM块中保留DesignCapacity和TerminateVoltage，因此驱动程序可以为第一个块写入(BlockDataChecksum，v)，然后立即写入(DataClass, id) write (DataBlock，n)，以便读取/修改下一个块。 到今天为止，我唯一要隔离两个此类更新的方法是长时间延迟。
谢谢你。
