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[参考译文] BQ40Z50：Bq40z50的PTC示意图

admin
Guru**** 2595805 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ40Z50

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1089139/bq40z50-ptc-schematic-of-bq40z50

部件号：BQ40Z50

您好，

我们目前正在为2S 1.865万锂离子电池设计BMS。

1.我们目前对安全PTC电路的理解仍有问题。

在数据表中，一个10k电阻器从PTCEN连接到PTC-PIN。 10k电阻器是否可替代PTC？ (文档：slua660a第13页，第4.6 章)

根据技术说明，PTC电阻器应连接在PTC-PIN和VSS之间。 但图(15)中没有显示这一点。 如何理解这一点？

是否有任何关于BQ40z50中PTC测量/触发器外观的信息？

简短的解释会很有帮助。

2.您是否在原理图中看到其他一些需要改进的地方？

此致

 

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，

    PTC是一种特殊电阻器，其电阻随温度非线性增加(有线性电阻，但不适用于此电路)。 PTC故障通过将恒定的小电流引入PTC引脚来在该设备中工作。 该设备监测PTC引脚和BAT之间的电压差，电压差将随着PTC电阻的增加而增加(PTC上的IR下降)。 一旦电压超过特定阈值，设备就会知道PTC的电阻过高，因此温度较高，并激活故障状态。 这是操作背后的基本理念，希望能有所帮助。 我现在将更具体地回答这些问题。

    1)我们的EVM随附了10k电阻器，而不是PTC。 但是，我相信数据表显示的是PTC，它只是显示PTC的室温阻值，应该为10k左右。  使用普通10k电阻器代替PTC将不允许检测温度故障。 我有点不确定您的"替换"是什么意思，因此如果这不能回答您的问题，请随意详细说明

    它说连接到VSS的确切位置是什么？ 如果您想使用它，这将是一个错误，否则将禁用该功能。 它应该在BAT和PTC之间，如应用图所示。  

    2)我看了一下示意图，看起来不错，没有发现任何异常之处，似乎大部分都是标准的。 但我要注意，确保您选择的PTC能够满足数据表中的PTC跳闸电阻规格(关于1.2 -3.95Mohms)，具有标称10k电阻。 BQ40z50 EVM用户指南 中有特定的部件建议，但您通常会发现它们被列为“可重置熔丝”。  

    谢谢！

    Alex M.

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好，Alex，

     

    首先，感谢您的详细解释。 它肯定帮了很大的忙。 然后，我将采用参考电路并选择合适的PTC。

     

    1)

    我将引用数据表(PTC.PTC 2.3 6 9.2 热敏电阻)中的内容：

     

    "BQ40Z50设备为安全PTC热敏电阻提供支持。 PTC热敏电阻连接在PTC引脚和VSS之间。 ..."

     

    2)

    感谢评论;-)

     

    此致！

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好Martin，

    我现在看到了，谢谢你指出这一点。 不幸的是，这几乎肯定是数据表中的打字错误。 很抱歉可能造成的任何混淆。

    谢谢！

    Alex M.

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    剩下的一个问题是：我们的供应商提到：

    "除此之外，根据数据表，使用NTC测量FET的温度并非设计目的。
    (EVM板上也不会执行此操作)。"

    这句话是否真的正确？ 我们在每个FET上都有一个NTC，在两者之间有一个PTC。 请参阅附件中的屏幕截图。 我认为我们的设计是正确的，我们可以根据每个FET使用固件中的温度，对吗？

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好Martin，

    可能是沟通有误？ 使用某些NTC测量FET温度是绝对的设计。 在TRM部分2.8 中，它介绍了如何将每个NTC配置为FET或细胞测量。 是的，您可以使用NTCs来测量两个FET的温度。 只需确保在FW中正确配置所有内容。

    谢谢！

    Alex M.