你(们)好
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出什么问题了吗?

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e2e.ti.com/.../4336.SYNC_2D00_BUCK_2D00_FET_2D00_LOSS_2D00_CALC_5F00_Rev1.xlsm
您好,Eric,
以下是状况和规格, 附件是MOS数据表,
VIN=24,Vout =12,TDC =17A ,500kHz
您会帮我检查 他们是否可以在高侧使用两个平行MOS吗?

此处是否由于栅极电荷过大而导致开关损耗过大(40nC)
e2e.ti.com/.../PK6A6BA_5F00_SPEC-_2800_004_2900_.pdf?</s>2900
您好,Eric,
1.我认为您显示的公式有一些问题,因为我的Vin是24V>VCC,
因此,VG应该是7.6V而不是4V,驱动电流限制应该是42mA,而不是30mA,这是Vin<VCC时的规格。
对吗?
2. 因为当VG为7.6V时,MOS Qg大约为28nC (参见数据表)
如果我只使用一个MOS (PK6A6BA),并将频率更改为150kHz (28nCx7.6x150kHz=32mA <42mA),该怎么办?
如果我的驱动电流低于最大42mA,我是否可以通过热测试?
请帮助评估,谢谢
您好,Eric,
抱歉,我认为当Vin和VCC低于4V ...时,30mA是情况,事实不是这样。
1.那么,如果我只在高侧使用一个MOS并将频率降低到一半,则会怎样呢?22.5mA=30nCx3pcsx250KHz < 30mA。
这是否正常?
2.如果驱动电流 高于LM25117 (30mA)的供电电流限制,会发生什么情况?
您会详细说明内部LDO的情况吗? 这与高侧MOS的热量有何关系?
您好,Eric,
感谢您的计算,
我们对MOS进行了如下更改,
RDS_ON现在变为2欧姆。 PDC应该是1/4,约为0.56W
就PSW而言,Qg也大幅降低,这也降低了tr和TF (不确定确切数字)。
通过我的粗略计算,Tj肯定低于150C
我相信这可以更有信心地通过,您是否会帮助再次检查新的高侧MOS?
非常感谢。