主题中讨论的其他部件:UCC2.878万
上面的屏幕截图是 UCC2.878万EVM-02中Q2源和门控上的启动测试波形 。 上升时间约为50毫秒。
我们用Q2取代了BSP135并在VDD上使用相同的电容40uF作为电路原型。 新电路使用来自VDD的额外2.5mA 用于其他电路。 我们发现 上升 波形上的时间增加 到4.5 秒。 在 图 16在数据表SLUSD12A中, 以下描述了该声明
当VVDD低于1 V时,RDDS设置为12 kΩ,以限制VDD针脚短路事件下的最大故障电流。 当VVDD升至1 V以上时,RDDS降至1 kΩ,以允许VVDD更快地充电。 最大充电电流(ISWS)受RDDS,从SWS引脚到QS的外部串联电阻(RSWS)以及QS (VTH (Qs))的阈值电压的影响。
问:4.5 秒上升时间是 由于受损RDDS保持在12 kΩ 甚至VDD高于1V? 或者由于QS (VTH (Qs))在 受到 VTH (Qs)/(RDDS+RSWS)等式限制的较高的Isws初始充电电流下降低?