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部件号:LMZ1.201万 您好,
我们的团队在这里对CSAM对IC的调查结果有一些疑问。 在X射线检查过程中,我们观察到IC内部存在一些空隙。
在使用100x范围并聚焦到此空隙区域后,我们发现这些空隙实际上是冲模和基板之间的粘接材料间隙。
在此,我们非常感谢您就以下问题提供专业建议:
1)这种粘合材料间隙在IC制造中是否常见?
2)使用此类IC条件时可能会产生哪些风险?