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[参考译文] BQ27Z561：在通信方法切换至 HDQ 后、无法写入数据

admin
Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ27Z561, EV2400, BQSTUDIO

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1117300/bq27z561-data-cannot-be-written-after-the-communication-method-is-switched-to-hdq

器件型号：BQ27Z561
主题中讨论的其他器件： EV2400、 BQSTUDIO

您好 、专家、

当我使用 BQ27Z561时、我发现有时在转换为 HDQ 后无法写入数据：
例如、如果我向电池发送开路寿命命令、复位后、寿命将再次关闭；
或者、当我在数据存储器中将制造商信息写入电池时、制造商信息会在重新读取后恢复为默认值。

您能不能帮助我分析导致这种情况的原因、还有没有办法避免这种问题。

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    "开放寿命命令"的含义是什么？ 如果您将解封(获取访问权限)称为"开放寿命"、则无论 HDQ 或 I2C 接口如何、这将在复位后自动重新密封(关闭)。

    在将任何内容写入数据存储器之前、请确保测量仪表未密封。

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    大家好、Dominnik、

    如下图所示、IC 已解开密封。 发送 LT_EN 命令后、寿命未打开。

    当我尝试修改数据存储器中的参数时、BQ Studio 的左下角将显示 读取写入的数据失败比较。

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    我发现该状态与未密封状态非常相似、但 BQ Studio 界面显示 IC 是完全访问。 我尝试对 IC 进行加密和解密、发现 IC 可以加密或解封、但完全访问失败、我们没有更改密码。

    问题提出已经有三天了、有没有人能帮我分析一下？

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    其他修改：
    大多数电池在我们加密后无法解密、当然、我们没有更改默认密码

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    有几个潜在问题：

    1.当您收到错误"读取数据写入失败比较"时、电压可能(暂时)降至闪存更新所需的最小值以下。 如果您使用实验室电源、请确保电流限制器不会在闪存写入期间暂时降低电压。 如果您使用电池、请确保电池充电良好。

    2.如果您无法"解封完整访问"，则可能需要等待足够长的时间才能准备好两字身份验证机制。 当您开始发出两个解除密封完全访问字时、控制解除密封过程的量表内的状态机必须处于空闲状态。 确保这一点的一种方法是在4秒内不与监测计通信(这让它超时)。

    当您说电池无法解密时、您是指未密封？ 如果是、请确保等待4秒而不与监测计进行任何通信、然后在两个单独的写入命令中发出两个 unseal 字。 如果您这样做、该过程将100%正常工作。

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您好，

    电池电压是3.7V、我检查了外设电路、它工作正常、所以我确认电源没有问题；
    关于解密、我相信我们等待的时间超过4S。

    最奇怪的问题是、BQ Studio 显示 IC 具有完全可读性、但实际上它无法将数据写入 IC

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您是否正在使用 EVM 或是否将 EV2x00修补到您自己的电路板中？

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    使用 Ev2400

    在我们的生产中发现了此问题、缺陷率约为0.5%，、样品未发现此问题。

    实际上、我想知道哪些因素会导致此类问题、IC 本身或外部影响？
    如果有一些外部因素会导致此类问题、我可能可以在生产中对其进行调整

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    最可能的问题是、在闪存写入期间、监测计的电源电压会下降。 这时 bqStudio 无法读回写入的值、因为监测计不会写入 bqStudio 发送的值、因此读取验证步骤失败。

    关于解封：请确保在 bqStudio 中禁用自动刷新。

    而且："最奇怪的问题是、BQ Studio 显示 IC 具有完全可读性、但实际上它无法将数据写入 IC "。 如果测量仪表 SEC 位显示它是未密封或未密封的完全访问、则这是真实状态。 如果无法在未密封状态下写入、则原因不是监测计处于密封状态(因为没有)、原因是闪存写入失败、只有监测计出现故障(=坏部件)或在绝大多数情况下、才会发生这种情况。 这是因为电源电压(暂时)下降。 如果您可以排除在写入操作期间电源、即使是小毛刺脉冲(请查看示波器)也会降至2800mV 以下、那么器件很可能出现故障。 当电压正确且使用 bqStudio 时、器件拒绝闪存写入是不正常的。

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    感谢您的回答、我将在发送 WRITE 命令时尝试测量电压。


    换句话说、如果示波器读取到电压正常、这是否意味着 IC 已损坏？

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    如果电压始终高于大约2800mV (无任何毛刺脉冲)、并且您可以保证没有其他器件干扰通信总线、并且您无法向监测计写入数据、那么这将指向有缺陷的监测计。

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    TI__Guru**** 2539500 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好！

    在测试后、我们发现可以通过关闭 IC 电源然后再次打开 IC 来解决此问题。

    您能帮助我们分析导致它的原因

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    监测计不会将任何阻止其写入闪存的内容存储在易失性存储器中。 在对电量监测计进行下电上电时、是否仅对电量监测计或整个系统进行下电上电？

    产生闪存写入问题的主要原因是当电量监测计实际开始写入闪存过程时、电源不稳定。

    您是否能够在 EVM 上重现此问题？