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器件型号:LM3445 如 LM3445数据表和应用手册中所述应用时、产生的电路易受主开关 NFET 故障的影响。
FET 在所有端子处都短路、导致故障的明显高压事件通过 FET 内部的漏极-栅极连接耦合到栅极端子、在此处馈送到 LM3445的驱动引脚并损坏 LM3445。
我需要一种方法来停止这些故障。 我使用 的是 ST Microelctronics 的600V NFET:STP11N60DM2。
您是否在 LM3445应用手册中对此设计有类似的问题? 您是如何解决的。