请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：LM3445 如 LM3445数据表和应用手册中所述应用时、产生的电路易受主开关 NFET 故障的影响。
FET 在所有端子处都短路、导致故障的明显高压事件通过 FET 内部的漏极-栅极连接耦合到栅极端子、在此处馈送到 LM3445的驱动引脚并损坏 LM3445。
我需要一种方法来停止这些故障。 我使用 的是 ST Microelctronics 的600V NFET：STP11N60DM2。
您是否在 LM3445应用手册中对此设计有类似的问题？ 您是如何解决的。
