[参考译文] BQ28Z610-R1：无法更换密封键

您好、Charles、

1.确保量表未密封

2.确保电池电压大于数据闪存中存在的"有效更新电压"

写入校验和后至少等待250ms

您好 Shirish、

1.量表未密封。 我在 从未密封的电路板上进行了测试。

2. "有效更新电压"= 2800mV。 电路电压= 3700mV

3、还可以 校验和与读取寄存器之间的间隔为1分钟。 但是、WRITE 命令和校验和之间是否存在最大延迟？

您好、Charles、

由于命令之间间隔较长、bqStudio 可能会在两者之间发送其他命令、这将导致命令序列中断。 尝试关闭寄存器扫描并关闭仪表板刷新。  

只需阐明：监测计必须处于完全访问模式。 这是从未密封的电路板的默认设置、因此您的电路板已经处于完全访问模式。

您好 Shirish、

我使用了监听器/帧分析。

您可以在随附的 file.e2e.ti.com/.../Read_2D00_security_2D00_register.xlsx 中查看结果

图例：  

• 橙色：用于读取安全寄存器的命令  
• 黄色：读取 (默认代码)
• 亮绿色：命令以写入新的密封代码
• 绿色：校验和

没有寄生模式。 BQStudio 已根据我进行正确配置。

遗憾的是、密封键的修改不成功...

抱歉、  

以下是正确的文件： e2e.ti.com/.../Read_2D00_security_2D00_register-_2D00_-2.xlsx

(将校验和写入0x60而不是0x3E)

您好、Charles、

该过程看起来正确。 您能否使用数据存储器选项卡验证您是否可以更新数据闪存中的参数？

我不确定是否理解。  

按照我的理解、SEAL 键和完全访问键 不会写入 DataFlash 中。 不像 BQ34z100。
不过、此处是提取 的 e2e.ti.com/.../extract_2D00_DF.gg.csv

您好、Charles、

在某些情况下、闪存写入被禁用。 在这种情况下、也不会写入密封钥匙。 要排除这种情况、需要验证其他数据闪存区域是否可写入。

您好  Shirish、  

我阅读上一封邮件的速度太快。 抱歉。
我可以更改 DataFlash (我尝试使用安全设置)。

您好、Wyatt、  

不、仍然不是。 我可以使用  MEMORY 选项卡修改数据库以获取其他参数。 但是修改"0x0035安全密钥"的命令不起作用...

应该在我之前的注释中读出它： 我可以更改 DataFlash (我尝试使用保护设置)

您好、Charles、

您可以尝试使用版本1.3.86.6吗？ 以下是一个链接：

https://www.ti.com/tool/download/BQSTUDIO-STABLE/1.3.86.6

我怀疑这可能是问题的唯一原因是此主题：

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1010769/bq28z610-r1-we-cannot-change-seal-key-when-using-bqstudio-1-3-101-or-1-3-102

但似乎没有定论。

请告诉我这种情况是否确实如此，我们可以弄清楚原因。

谢谢、

Alex M.

Alex、您好！  

我尝试了 1.3.86.6、但获得了相同的结果。
我看到了这个主题。  与此示例不同、我不通过发送 unseal 命令而是通过读取0x0035寄存器来控制。

注意：我们的电路处于完全访问模式。  

您好、Charles、

我将尝试使用 EVM 并检查是否可以重现。

您好 Shirish、  

感谢您的支持。  
实际上、我的错误是位在长度上发生了翻转...  很抱歉，我要求这样做。

如需了解相关信息、 我可以使用版本1.3.111更改安全代码

此致

您好、Charles、

最好知道您的问题已解决！ 谢谢。