[参考译文] BQ25895：请查看原理图和寄存器设置。

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：BQ25895
主题中讨论的其他器件： BQSTUDIO

您好、TI 专家、

我的客户使用 BQ25895制造了他们的第一个 PCB、但它不适用于 bqStudio 的默认设置。您能否查看原理图和寄存器设置？

(它们使用 VBUS 电压的电源。)

我还随附了 BQ25895EVM bqStudio 和客户 PCB 的屏幕截图。

->这是 BQ25895EVM 的 bqStudio 的屏幕截图。

-> 这是客户 PCB bqStudio 的屏幕截图。

-->如您所见，我认为唯一的区别是 NTC 故障，EVM 为“正常”(000)，客户的 PCB 为“暖”(010)"。

我附加了2个寄存器转储。

-> BQ25895EVM 的寄存器转储(正常工作)

->注册客户 PCB 的转储(无法为电池充电)

最后、这里有更多问题。

1. BATFET (Q4)关断的情况是什么？因为我们认为由于 BATFET 关闭、IC 无法为电池充电。我们如何手动开启 BATFET？我们可以使用寄存器进行控制吗？

2.我们认为另一个原因是热关断、我们如何在没有热敏电阻的情况下测试 IC？我可以将 TS 引脚悬空吗？还是应该将其上拉或下拉？

请检查此问题。谢谢。

此致、

Chase

0 admin 3 年多前

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你好 Chase、

有关原理图审阅的更多详细信息、请参阅原理图审阅检查清单、我将在此处链接。 e2e.ti.com/.../0456.BQ25895_5F00_SchematicChecklist-V1p1.pdf

从我的初始审查中可以看出、客户在 PMID 引脚上缺少所需的电容器、TI 建议他们将 Sys 上的电容从10uF 增加到20uF。

基于随附的 BQstudio 图像和寄存器转储、我同意您的观察结果。具有 TS 热故障的客户电路板会阻止器件充电。他们应在 TS 引脚处查看其电阻分压器网络和热敏电阻值。 TS 过热故障表示 TS 上的电压过低。在2)下面、我介绍了如何在移除热敏电阻的情况下测试 IC。

1)是 Q4 BATFET 可通过寄存器设置打开和关闭。 REG09数据表中被称为 BATFET_DIS 的位5允许您手动关闭或开启 Q4。数据表第8.2.15节提供了一些输出保护功能、用于关闭 BATFET (Q4)。

2) 2)如果客户希望在不使用热敏电阻的情况下执行电池温度测试、则 TS 上的电阻分压器网络应包含2个10K 电阻器。 TS 引脚不应悬空、因为这将导致 NTC 故障。

此致、

Garrett

电源管理（参考译文帖）(Read Only)