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器件型号：BQ78350-R2-DEVICE-FW 主题中讨论的其他器件：BQSTUDIO
我们和我们的电池供应商目前面临的问题是、由于充电和放电 FET 发生故障、BMC 出现"永久性故障"。
我们发现奇怪的一点是、我们相信预充电会导致充电 FET 发生故障：
与预充电期间一样、充电 FET 关闭、这将在设计上触发"永久故障"。 是这样吗？
除此之外、如上所述、我们现在已经多次发生充电和放电 FET 故障错误、即使我们关闭了预充电。 以下是有关发生时间的简短说明：
- 充电期间拔下数据连接器(PRES、SDA、SCL 和数据 GND)会导致充电 FET 出现故障。 充电器一直插电。
- 对于其他实例和所有显示 FET 发生故障、我们很遗憾不知道问题发生的确切时间点。 此外、我们无法重新生成命令错误。
您过去是否遇到过类似的问题？ 我们希望您能向我们指明方向。
